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J-GLOBAL ID：202002270151368620   整理番号：20A2623028

システムレベルESD試験のための時間領域近接場測定技術とシミュレーション【JST・京大機械翻訳】

Time domain Near-Field Measurement Technology and Simulation for System Level ESD Testing

著者 (6件)： Li Cheng-Tao (Micro Electronic Packaging Laboratory National University of Kaohsiung,Taiwan) ,  Liu Che-Yu (Micro Electronic Packaging Laboratory National University of Kaohsiung,Taiwan) ,  Wu Sung-Mao (Micro Electronic Packaging Laboratory National University of Kaohsiung,Taiwan) ,  Guan Sheng-Wei (National Sun Yat-sen University Kaohsiung,Department of Electrical Engineering,Taiwan) ,  Lin Ming-Shan (Metrology and Inspection (BSMI) Ministry of Economic Affairs,Taiwan) ,  Su Chia-Hung (Electronics Testing Center,Taiwan)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2020  号： iWEM  ページ： 1-2  発行年： 2020年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,システムレベルESD(静電放電)のための現場測定の時間ドメインは,ESD試験における一時的故障を解決することである。最初に,本論文は,オシロスコープによってESDの波形を測定して,次に,ESD銃と近接場シミュレーション結果のモデルを作成するために,シミュレーションツールを使用した。最後に,サンプルを測定し,シミュレーション結果と比較するために,フィールド測定システム近くの時間領域を用いた。Copyright 2020 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *シミュレーション ,  故障 ,  オシロスコープ ,  計測システム ,  *近接場
準シソーラス用語： 静電気放電 ,  *時間領域 ,  シミュレーションツール , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (5件)： ESD ,  試験 ,  時間領域 ,  近接場 ,  シミュレーション