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J-GLOBAL ID：202002270635432983   整理番号：20A1197128

線形不等式制約によるGauss過程エミュレータの近似とMCとmcmCによる雑音のある観測【JST・京大機械翻訳】

Approximating Gaussian Process Emulators with Linear Inequality Constraints and Noisy Observations via MC and MCMC

著者 (7件)： Lopez-Lopera Andres F. (Mines Saint-Etienne, CNRS, UMR 6158 LIMOS, Institut Henri Fayol, Universite Clermont Auvergne, Saint-Etienne, France) ,  Bachoc Francois (Institut de Mathematiques de Toulouse, Universite Paul Sabatier, Toulouse, France) ,  Durrande Nicolas (Mines Saint-Etienne, CNRS, UMR 6158 LIMOS, Institut Henri Fayol, Universite Clermont Auvergne, Saint-Etienne, France) ,  Durrande Nicolas (PROWLER.io, Cambridge, UK) ,  Rohmer Jeremy (BRGM, DRP/R3C, Orleans cedex 2, France) ,  Idier Deborah (BRGM, DRP/R3C, Orleans cedex 2, France) ,  Roustant Olivier (Mines Saint-Etienne, CNRS, UMR 6158 LIMOS, Institut Henri Fayol, Universite Clermont Auvergne, Saint-Etienne, France)
資料名： Springer Proceedings in Mathematics & Statistics  (Springer Proceedings in Mathematics & Statistics)
巻： 324  ページ： 363-381  発行年： 2020年 
JST資料番号： W5074A  ISSN： 2194-1009  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： Gauss過程(GP)における不等式制約(例えば,正値性,単調性,凸性)の追加は,より現実的な確率的エミュレータをもたらす。後部の切断されたGauss性のために,その分布は近似されなければならない。本研究では,モンテカルロ(MC)とMarkov連鎖MC(MCMC)法を考察した。しかし,観測を厳密に内挿することにより,高度に制限されたサンプル空間による高価な計算が可能になる可能性がある。さらに,データが実際に雑音がある場合のエミュレータは,現実世界の応用にも興味がある。そこで,補間条件の緩和のための雑音項を導入し,線形不等式制約下でのGPエミュレータの対応近似を開発した。雑音のある観測を考慮した場合,MCとMCMCサンプラーの性能が改善されることを種々の合成例で実証した。最後に,2Dおよび5D沿岸フラッディング応用において,より柔軟で現実的なエミュレータが,雑音効果を考慮し,不等式制約を強制することにより得られることを示した。Copyright Springer Nature Switzerland AG 2020 Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： モンテカルロ法 ,  *雑音 ,  *不等式 ,  内挿法 ,  フラッディング ,  *Gauss過程 ,  Markov連鎖 ,  *近似法 ,  線形性 ,  二次元 ,  沿岸 ,  *エミュレータ
準シソーラス用語： *MCMC ,  単調性 ,  *等式制約 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： 線形不等式制約 ,  Gauss過程エミュレータ ,  モンテカルロとマルコフ連鎖 ,  モンテカルロ法 ,  雑音のある観測による不確実性の

分類 (1件)： 信号理論  (ND02020G)

タイトルに関連する用語 (9件)： 線形 ,  等式制約 ,  Gauss過程 ,  エミュレータ ,  近似 ,  MC ,  MCMC ,  雑音 ,  観測