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J-GLOBAL ID：202002270997197929   整理番号：20A2698921

走査トンネル顕微鏡における非弾性電子散乱による分子励起の微視的起源【JST・京大機械翻訳】

Microscopic origin of molecule excitation via inelastic electron scattering in scanning tunneling microscope

著者 (3件)： Dong Guohui (Graduate School of Chinese Academy of Engineering Physics, Beijing 100084, People’s Republic of China) ,  You Yining (Department of Modern Physics, University of Science and Technology of China, Hefei 230026, People’s Republic of China) ,  Dong Hui (Graduate School of Chinese Academy of Engineering Physics, Beijing 100084, People’s Republic of China)
資料名： New Journal of Physics (Web)  (New Journal of Physics (Web))
巻： 22  号： 11  ページ： 113010 (11pp)  発行年： 2020年 
JST資料番号： U7017A  ISSN： 1367-2630  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 走査トンネル顕微鏡誘起ルミネセンスは,単一分子レベルまで分子特性を測定するのに不正確なツールとして最近出現した。急速な実験的進歩は,観察された現象に対する理論的努力のずっと前である。このような不一致は,単一分子の構造と動力学に対する蛍光スペクトルの観測された特徴を定量的に帰属する大きな困難をもたらす。本研究では,走査型トンネル顕微鏡におけるトンネル電子の非弾性散乱による分子励起の微視的起源を明らかにする。ここで提案した理論は,負のバイアス電圧よりも正のバイアスで観測される大きな光子計数速度の起源として非弾性電子散乱を除外した。Please refer to the publisher for the copyright holders. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 蛍光スペクトル ,  非弾性散乱 ,  ルミネセンス ,  光子計数 ,  *分子励起 ,  *電子散乱 ,  バイアス ,  *非弾性 ,  *走査型トンネル顕微鏡
準シソーラス用語： 単一分子 ,  バイアス電圧 ,  分子特性解析 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 顕微鏡法  (BK01040E)

タイトルに関連する用語 (5件)： 走査トンネル顕微鏡 ,  非弾性 ,  電子散乱 ,  分子励起 ,  起源