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J-GLOBAL ID:202002271561065859   整理番号:20A0651229

銅ナノワイヤのイオン照射誘起欠陥研究【JST・京大機械翻訳】

Ions irradiation-induced defects study of copper nanowires
著者 (18件):
資料名:
巻: 171  ページ: Null  発行年: 2020年 
JST資料番号: D0627A  ISSN: 0969-806X  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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構造及び形態特性に及ぼす5MeV H+及びC+イオンによるCu-NWの照射誘起損傷研究を詳細に調べた。作製したCu-NWのXRDスペクトルとHRTEM分析は,(111)方向に最良の配向ピークを有する良好な結晶性を与えた。H+とC+イオン照射の効果は,HRTEMで観察されたように,構造欠陥形成による(111)ピーク強度の減少を誘起する。また,それは,Cu_2O相の形成とCu-NW直径の増加をもたらし,NW膨潤を意味した。5MeV H+照射の高フルエンスでCu2O相強度の増加を観測した。この相は試料を5MeV C+イオンで照射すると減少した。観測された回折ピークは(111)では低角度にシフトしなかったので,NWの膨潤は格子定数の膨張によるものではなく,おそらくCu_2O相の形成によるものと結論した。したがって,Cu-NW上のH+とC+イオン照射はCu/CuO複合体形成をもたらし,これは主にナノデバイスに応用できる可能性があると結論できる。Copyright 2020 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (2件):
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その他の物質の放射線による構造と物性の変化  ,  半導体の放射線による構造と物性の変化 

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