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J-GLOBAL ID：202002272821918836   整理番号：20A1584983

重イオン実験データに基づいて,ナノ強化静的ランダムメモリの陽子単一粒子効果感度を予測した。【JST・京大機械翻訳】

Prediction of proton single event upset sensitivity based on heavy ion test data in nanometer hardened static random access memory

著者 (4件)： Luo Yinhong (西北核技術研究院,強脉冲輻射環境模擬与效応国家重点実験室,西安710024) ,  Zhang Fengqi (西北核技術研究院,強脉冲輻射環境模擬与效応国家重点実験室,西安710024) ,  Guo Hongxia (西北核技術研究院,強脉冲輻射環境模擬与效応国家重点実験室,西安710024) ,  Wojtek Hajdas (保羅謝勒研究所,菲林根 5232 瑞士)
資料名： Wuli Xuebao  (Wuli Xuebao)
巻： 69  号： 1  ページ： 334-342  発行年： 2020年 
JST資料番号： B0628A  ISSN： 1000-3290  CODEN： WLHPA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： ナノDICE(dualinterlockedcell)補強装置の抗陽子単粒子能力の正確な評価を実現する。65nmダブルDICE強化静的ランダムメモリ(staticrandomaccessmemory,SRAM)重イオン単粒子回転試験データを分析した。重イオンの垂直と斜め入射時の単一粒子反転(singleeventupset,SEU)閾値及びイオン入射の最も悪い方位角を得た。モンテカルロシミュレーションにより,異なるエネルギー陽子と多層金属配線層の間の核反応による二次粒子LET(linearenergytransfer)の最大値および角度分布特性を得た。陽子単一粒子効果の感度を,異なるエネルギーで予測し,そして,陽子単一粒子効果実験の結果は,予測方法の有効性および予測結果の精度を,検証した。重イオンと陽子単一粒子効果試験評価において,DICE強化装置に対して,イオンの最も劣った方位角での傾斜角入射試験を提案した。Data from Wanfang. Translated by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 予測技法 ,  *イオン ,  核反応 ,  角分布 ,  *陽子 ,  方位角 ,  *重イオン ,  傾斜角 ,  多層 ,  有効性
準シソーラス用語： モンテカルロシミュレーション ,  試験データ ,  単一粒子 ,  二次粒子 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： その他の粒子による反応・散乱  (BG04080F)

タイトルに関連する用語 (7件)： 重イオン ,  実験データ ,  強化 ,  陽子 ,  単一粒子 ,  感度 ,  予測