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J-GLOBAL ID:202002273114677765   整理番号:20A2549858

透過高エネルギー電子顕微鏡の実証【JST・京大機械翻訳】

Demonstration of transmission high energy electron microscopy
著者 (19件):
資料名:
巻: 2272  号:ページ: 060025-060025-6  発行年: 2020年 
JST資料番号: D0071C  ISSN: 0094-243X  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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800MeV陽子による荷電粒子ラジオグラフィーがLANLで数十年間使用され,動的材料特性を研究するために世界中で開発された。最近,高エネルギー電子を用いて荷電粒子ラジオグラフィーが実証されてきた。陽子の質量と比較して電子の質量の違いのため,X線撮影プロセスは実質的に異なり,比較的薄い系における高速動的プロセスの研究に適している。この提示は,SLAC国立加速器研究所で発生した14GeV電子で行った最近の実証から収集されたデータと共に,このような測定に必要なレイアウトを示す。この測定技術の限界とともにフラッシュ測定のX線撮影性能を提示した。Copyright 2020 AIP Publishing LLC All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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