文献

J-GLOBAL ID：202002274132241548   整理番号：20A1156331

シート抵抗加硫信頼性技術研究【JST・京大機械翻訳】

Study on Reliability of Chip Resistor in Preventing Sulfuration

著者 (3件)： Zhang Shili (中国電子科技集団公司第二十四研究所,重慶,400060) ,  Tang Wanjun (中国電子科技集団公司第二十四研究所,重慶,400060) ,  Xiao Ling (中国電子科技集団公司第二十四研究所,重慶,400060)
資料名： Huanjing Jishu  (Huanjing Jishu)
号： 1  ページ： 46-49,56  発行年： 2020年 
JST資料番号： C3765A  ISSN： 1004-7204  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： あるモジュール製品中のシート抵抗の硫化故障問題に対して、シート抵抗硫化のメカニズム研究を通じて、高信頼非密封構造製品及び使用環境要求を結びつけ、多種類の品質等級抵抗、プロセス案、プロセス材料の耐硫化環境試験を行った。マルチグループ試験の対比を通して、非密封構造製品中のシート抵抗の防加硫の信頼性技術ソリューションを提案した。Data from Wanfang. Translated by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 故障 ,  *信頼性 ,  環境試験 ,  *加硫 ,  硫化 ,  *シート抵抗
準シソーラス用語： シール構造 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 固体デバイス製造技術一般  (NC03030V)

タイトルに関連する用語 (3件)： シート抵抗 ,  加硫 ,  研究