Yonezawa G. について
Sony Corp., 1-7-1 Konan Minato-ku, Tokyo, 108-0075, Japan について
Yonezawa G. について
Frontier Research Institute for Interdisciplinary Sciences (FRIS), Tohoku University, Sendai, 980-8578, Japan について
Takahashi Y. について
Sony Imaging Products & Solutions Inc., 1-7-1 Konan Minato-ku, Tokyo, 108-0075, Japan について
Sato Y. について
Sony Corp., 1-7-1 Konan Minato-ku, Tokyo, 108-0075, Japan について
Sony Global Manufacturing & Operations Corporation, 1-7-1 Konan Minato-ku, Tokyo, 108-0075, Japan について
Uomoto M. について
Frontier Research Institute for Interdisciplinary Sciences (FRIS), Tohoku University, Sendai, 980-8578, Japan について
Shimatsu T. について
Frontier Research Institute for Interdisciplinary Sciences (FRIS), Tohoku University, Sendai, 980-8578, Japan について
Shimatsu T. について
Research Institute of Electrical Communication (RIEC), Tohoku University, Sendai, 980-8577, Japan について
Japanese Journal of Applied Physics について
酸化物 について
拡散接合 について
ウエハ【IC】 について
下層 について
電子エネルギー損失分光法 について
透過型電子顕微鏡 について
結合エネルギー について
焼なまし について
サファイア について
石英ガラス について
ナノ結晶 について
透過率 について
構造解析 について
付着強さ について
屈折率 について
結晶粒 について
非晶質 について
二酸化ケイ素 について
チタン について
金属薄膜 について
下地層 について
結合強度 について
原子拡散 について
光透過率 について
接合界面 について
固体デバイス製造技術一般 について
光学 について
応用 について
酸化物 について
下層 について
原子拡散 について