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J-GLOBAL ID：202002274956513301   整理番号：20A1166271

人工知能による電子顕微鏡画認識技術

著者 (5件)： 大南祐介 (日立ハイテクノロジーズ) ,  陳偉健 (日立ハイテクノロジーズ) ,  小松崎諒 (日立ハイテクノロジーズ) ,  千葉寛幸 (日立ハイテクノロジーズ) ,  佐藤博文 (日立ハイテクノロジーズ)
資料名： 日本顕微鏡学会北海道支部学術講演会講演要旨集  (Abstracts. General Meeting of Japanese Society of Microscopy. Hokkaido Branch)
巻： 2019  ページ： 15  発行年： 2019年12月07日 
JST資料番号： L6116A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

本文一部表示： 走査電子顕微鏡(Scanning Electron Microscope;SEM)や透過電子顕微鏡(Transmission Electron Microscope:TEM)は、バイオテクノロジー分野や材料分野をはじめあらゆる産業分野にお...【本文一部表示】

シソーラス用語： *電子顕微鏡 ,  *画像認識 ,  *人工知能 ,  微細構造 ,  前処理 ,  データ解析 ,  画像処理 ,  画像処理システム ,  アルゴリズム
準シソーラス用語： ROI【画像】 ,  画像処理アルゴリズム ,  画像分類 ,  電子顕微鏡画像

分類 (2件)： 電子顕微鏡,イオン顕微鏡  (BD02050B) ,  パターン認識  (JE07000S)

タイトルに関連する用語 (2件)： 人工知能 ,  電子顕微鏡