文献

J-GLOBAL ID：202002275324781449   整理番号：20A1762405

線形フィードフォワード/フィードバックシフトレジスタのためのユニバーサルテスト

Universal Testing for Linear Feed-Forward/Feedback Shift Registers

著者 (3件)： FUJIWARA Hideo (Osaka Gakuin University) ,  FUJIWARA Katsuya (Akita University) ,  HOSOKAWA Toshinori (College of Industrial Technology, Nihon University)
資料名： IEICE Transactions on Information and Systems (Web)  (IEICE Transactions on Information and Systems (Web))
巻： E103.D  号： 5  ページ： 1023-1030(J-STAGE)  発行年： 2020年 
JST資料番号： U0469A  ISSN： 1745-1361  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 線形フィードフォワード/フィードバックシフトレジスタは,組込み自己テストやセキュアスキャン設計などのさまざまな分野で回路をテストする効果的なツールとして使用される。本論文では,線形フィードフォワード/フィードバックシフトレジスタ自体のテストの問題について検討した。線形フィードフォワード/フィードバックシフトレジスタをテストするために,各レジスタのテストシーケンスを生成する必要がある。最初に,商用ATPG(自動テストパターンジェネレータ)が,64段の線形フィードフォワード/フィードバックシフトレジスタに対してさえ,高い故障カバレッジを持つテストシーケンスを常に発生できないという実験結果を示した。次に,線形フィードフォワード/フィードバックシフトレジスタのクラスに対して,テスト生成を必要としない,すなわち,テスト生成のコストがゼロになるような,100%の故障カバレッジを持つユニバーサルテストシーケンスが存在することを示した。線形フィードフォワード/フィードバックシフトレジスタのクラスのためのユニバーサルテストシーケンスの存在定理を証明した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *シフトレジスタ ,  *フィードフォワード ,  *試験 ,  BIST ,  被覆率 ,  回路設計 ,  パターン形成
準シソーラス用語： ATPG ,  スキャン設計 ,  *テスト生成 ,  パターンジェネレータ ,  故障カバレッジ ,  *線形フィードバックシフトレジスタ ,  組込み自己テスト

著者キーワード (7件)： 線形フィードフォワードシフトレジスタ ,  線形フィードバックシフトレジスタ ,  テスト生成 ,  順序論理 ,  ユニバーサルテスト ,  組込み自己試験 ,  安全なスキャン設計

分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  論理回路  (NC05070B)

引用文献 (8件)：

• [1] H. Fujiwara, Logic Testing and Design for Testability, The MIT Press, 1985.
• [2] P.H. Bardell, W.H. McAnney, and J. Savir, “Built-In Test for VLSI: Pseudorandom Techniques,” Qual. Reliab. Eng. Int., vol.5, no.1, pp.89-90, 1989. 10.1002/qre.4680050119
• [3] D.K. Pradhan and C. Liu, “EBIST: a novel test generator with built-in fault detection capability,” IEEE Trans. Comput.-Aided Design Integr. Circuits Syst., vol.24, no.9, pp.1457-1466, Sept. 2005. 10.1109/tcad.2005.850815
• [4] M. Nourani, M. Tehranipoor, and N. Ahmed, “Low-Transition Test Pattern Generation for BIST-Based Applications,” IEEE Trans. Comput., vol.57, no.3, pp.303-315, March 2008. 10.1109/tc.2007.70794
• [5] J.D. Rolt, A. Das, G.D. Natale, M.-L. Flottes, B. Rouzeyre, and I. Verbauwhede, “Test versus security: past and present,” IEEE Trans. Emerg. Topics Comput., vol.2, no.1, pp.50-62, 2014. 10.1109/tetc.2014.2304492

タイトルに関連する用語 (5件)： 線形 ,  フィードフォワード ,  フィードバック ,  シフトレジスタ ,  テスト