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J-GLOBAL ID：202002275567111561   整理番号：20A0013674

ランダムにミクロ組織化された表面の引かきとMAR可視性抵抗に及ぼすトポグラフィーの影響【JST・京大機械翻訳】

Influence of topography on the scratch and mar visibility resistance of randomly micro-textured surfaces

著者 (5件)： Gamonal-Repiso P. (Centre Catala del Plastic, Universidad Politecnica de Catalunya Barcelona Tech (UPC-EEBE), C/Colom 114, 08222, Terrassa, Spain) ,  Gamonal-Repiso P. (Departamento de Tecnologia de Materiales de SEAT S.A, Autovia A-2, Km 585, Apartado de Correos 91, 08760, Martorell, Spain) ,  Sanchez-Soto M. (Centre Catala del Plastic, Universidad Politecnica de Catalunya Barcelona Tech (UPC-EEBE), C/Colom 114, 08222, Terrassa, Spain) ,  Santos-Pinto S. (Departamento de Tecnologia de Materiales de SEAT S.A, Autovia A-2, Km 585, Apartado de Correos 91, 08760, Martorell, Spain) ,  Maspoch M. Ll (Centre Catala del Plastic, Universidad Politecnica de Catalunya Barcelona Tech (UPC-EEBE), C/Colom 114, 08222, Terrassa, Spain)
資料名： Wear  (Wear)
巻： 440-441  ページ： Null  発行年： 2019年 
JST資料番号： E0377A  ISSN： 0043-1648  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本研究では,ランダムにミクロ組織化されたポリプロピレン表面に及ぼすマクロおよびマイクロトポグラフィーの影響を研究した。色および白色光共焦点顕微鏡のような三次元(3D)技術を用いて,基礎となる表面の初期特性化を行った。多重スケール分析法を用いてマクロまたはミクロスケールの表面を分析した。その他の間で,ピーク-谷対称性と微小アスペリティの量のような地形特性を分析し,スクラッチと損傷の可視性抵抗を定量的に決定した。結果は,それらの機能的高さ分布におけるより高い対称性を有する表面が,スクラッチパターンとその残留バックグラウンド高さ(RBH)の間のより低い明度変化(ΔL*)をもたらすことを示した。これにより引かき損傷の隠蔽におけるより良い適合性が得られる。一方,組織の上部に少量の微小アスペリティを有するトポグラフは,より良好な耐力を提供した。これらの事例において,鉄のような変形メカニズムは最小化され,損傷領域とその周辺の間のより低い光沢変化とより低いコントラストをもたらす。Copyright 2020 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 三次元 ,  引かき試験 ,  表面分析 ,  白色光 ,  降伏強さ ,  アスペリティ ,  コントラスト ,  高分子 ,  鉄 ,  対称性 ,  明度 ,  滑り摩耗 ,  *可視度 ,  共焦点顕微鏡 ,  キャラクタリゼーション

著者キーワード (5件)： 表面分析 ,  引かき試験 ,  高分子 ,  表面トポグラフィー ,  滑り摩耗

分類 (3件)： 潤滑一般  (QB02010S) ,  固体の機械的性質一般  (BL01021C) ,  数値計算  (JE02000J)

タイトルに関連する用語 (3件)： ミクロ組織 ,  可視性 ,  トポグラフィー