文献

J-GLOBAL ID：202002275662938408   整理番号：20A2080980

マイクロ集光硬X線光電子分光実験のための高速ポジショニングシステムの開発

Development of Quick Positioning System for Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy using Micro-Focused Beam

著者 (3件)： 保井晃 (高輝度光科学研究セ) ,  池永英司 (高輝度光科学研究セ) ,  中村哲也 (高輝度光科学研究セ)
資料名： SPring-8/SACLA利用研究成果集(Web)  (SPring-8/SACLA Research Report (Web))
巻： 8  号： 2  ページ： WEB ONLY  発行年： 2020年08月21日 
JST資料番号： U1844A  ISSN： 2187-6886  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 硬X線光電子分光(HAXPES)計測による局所電子状態解析を,より効率化するための高速ポジショニングシステムを開発した。具体的には,本システムは光電子アナライザーの印加電圧を固定した状態で特定の光電子強度を計測しステップスキャンすることで,高速元素/形状マッピングを実現するものである。永久磁石など不均一性の大きい試料に対して硬X線マイクロビームを用いたHAXPES計測を行う際に,特定の内殻ピークを用いて高速に目標測定位置を探索できるシステムの開発が望まれていた。本研究で開発された二次元スキャンシステムは,従来のものに比べ約1/40の時間でスキャンできるため,ビームタイムの有効活用に繋がる。本システムは元素戦略プロジェクトで研究されているNd-Fe-B永久磁石だけでなく,物質中のドーパントの局所化学結合状態分析など,集光ビームを用いた光電子分光実験に対し広く役立つものである。(著者抄録)

シソーラス用語： *X線光電子分光法 ,  濃度分布 ,  走査装置 ,  化学結合 ,  ネオジム含有合金 ,  鉄合金 ,  ホウ素含有合金 ,  永久磁石 ,  ドーパント ,  X線マイクロビーム ,  *元素マッピング ,  *硬X線光電子分光
準シソーラス用語： スキャンシステム ,  目標位置

分類 (1件)： 電子分光スペクトル  (BM09060K)

引用文献 (9件)：

• J. C. Woicik, Hard X-Ray Photoelectron Spectroscopy (HAXPES) (Springer International Publishing, Cham, 2016).
• Y. Takata et al., Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. A 547, 50 (2005).
• E. Ikenaga et al., J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 190, 180 (2013).
• E. Ikenaga et al., Sync. Rad. News 31, 10 (2018).
• S. Tanuma, C. J. Powell and D. R. Penn, Surf. Interface Anal. 43, 689 (2011), and their reference articles.

タイトルに関連する用語 (6件)： マイクロ ,  集光 ,  硬X線光電子分光 ,  実験 ,  ポジショニング ,  開発