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{{ $t("message.AD_EXPIRE_DATE") }}2024年03月
文献
J-GLOBAL ID:202002275690137766   整理番号:20A1230870

様々な負荷条件下におけるFPGAのばらつきの測定

Measurement of Variations in FPGAs under Various Load Conditions
著者 (3件):
資料名:
巻: 13  ページ: 39-41(J-STAGE)  発行年: 2020年 
JST資料番号: U0110A  ISSN: 1882-6687  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
抄録/ポイント:
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本論文では,商用FPGAにおける様々な負荷条件下での動作速度,電力消費,及びチップ温度の実験的評価を提示した。FPGAの動作速度を測定するために,1つの4入力ルックアップテーブル(LUT)上に実装したリング発振器(RO)の発振周波数を計数した。FPGAに関する負荷条件は,測定ROの周りで並列に駆動したROの数によって制御することができた。測定結果は負荷回路として142のROを用いて動作速度が10%以上減少し,劣化率はFPGAにおける測定位置に依存することを示した。4つ以上のFPGAボードを用いたチップ間のばらつき評価は,無視できない速度変化が存在することを示した。(翻訳著者抄録)
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分類 (3件):
分類
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発振回路  ,  半導体集積回路  ,  システム・制御理論一般 
引用文献 (7件):
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タイトルに関連する用語 (2件):
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