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J-GLOBAL ID：202002276262756558   整理番号：20A1341967

アジアにおける革新的試験実践【JST・京大機械翻訳】

Innovative Test Practices in Asia

著者 (13件)： Iwasaki Takeshi (ASAHI KASEI MICRODEVICES CORPORATION) ,  Aso Masao (PRIVATECH Inc.) ,  Futami Haruji (PRIVATECH Inc.) ,  Matsunaga Satoshi (PRIVATECH Inc.) ,  Miyake Yousuke (Kyushu Institute of Technology) ,  Kato Takaaki (Kyushu Institute of Technology) ,  Kajihara Seiji (Kyushu Institute of Technology) ,  Miura Yukiya (Tokyo Metropolitan University) ,  Lai Smith (MediaTek) ,  Hung Gavin (MediaTek) ,  Chen Harry H. (MediaTek) ,  Kobayashi Haruo (Gunma University) ,  Hatayama Kazumi (EVALUTO)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2020  号： VTS  ページ： 1  発行年： 2020年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： IPセッションは,高価な装置なしでミリ波(76から81GHz)の試験ソリューション,現場試験のためのオンチップ遅延測定方法,およびIR違反低減のための速度走査試験の電力制御方法を含むアジアにおける3つの革新的試験実践を強調する。これらは自動車とIoT応用デバイス試験に有用である。Copyright 2020 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 自動車 ,  電力制御 ,  アジア ,  *EHF波 ,  現場試験
準シソーラス用語： オンチップ ,  モノのインターネット , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (2件)： アジア ,  試験