文献

J-GLOBAL ID：202002276717545558   整理番号：20A2689628

近似集積回路の試験技術の調査【JST・京大機械翻訳】

A Survey of Testing Techniques for Approximate Integrated Circuits

著者 (5件)： Traiola Marcello (Laboratory of Computer Science, Robotics and Microelectronics of Montpellier (LIRMM), University of Montpellier, French National Centre for Scientific Research (CNRS), Montpellier, France) ,  Virazel Arnaud (Laboratory of Computer Science, Robotics and Microelectronics of Montpellier (LIRMM), University of Montpellier, French National Centre for Scientific Research (CNRS), Montpellier, France) ,  Girard Patrick (Laboratory of Computer Science, Robotics and Microelectronics of Montpellier (LIRMM), University of Montpellier, French National Centre for Scientific Research (CNRS), Montpellier, France) ,  Barbareschi Mario (Department of Electrical Engineering and Information Technology (DIETI), University of Naples Federico II, Naples, Italy) ,  Bosio Alberto (Lyon Institute of Nanotechnology (INL), E ́cole Centrale de Lyon, Lyon, France)
資料名： Proceedings of the IEEE  (Proceedings of the IEEE)
巻： 108  号： 12  ページ： 2178-2194  発行年： 2020年 
JST資料番号： D0378A  ISSN： 0018-9219  CODEN： IEEPAD  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 近似計算(AxC)は,計算品質を賢明に低減することにより,より効率的な計算システムを生成する新しい設計パラダイムとしてますます浮上している。特に,AxCは,近年,集積回路(IC)に首尾よく適用されている。したがって,そのような新しいクラスのIC,すなわち,近似IC(AxIC)の試験に関して,新しい機会が,新しい機会である。この調査では,AxICの試験手順に関連する問題の完全な分析を提供し,それらを扱う最先端技術をレビューした。著者らは以下の2つの目的を持つ説明例を示した。1)AxIC試験課題を通して読者をガイドし,2)それらを正確に克服するための既存の解決策を例証し,一方,近似から来る機会の利点を適当に取り込む。AxICに対する最新の試験技術を実験的に分析し,それらの成熟側面,ならびにそれらの欠点を強調した。実験結果は,AxICの試験プロセスが完全に成熟しないことを示した。実際,特定の条件下でのみ,既存の試験手順は良好な結果を達成した。Copyright 2020 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *集積回路 ,  計算機システム ,  *近似法 ,  近似計算

分類 (1件)： 信号理論  (ND02020G)

タイトルに関連する用語 (4件)： 近似 ,  集積回路 ,  試験 ,  調査