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J-GLOBAL ID:202002277509799883   整理番号:20A2508415

タイプI打切りデータに基づくLin-Wong発散を用いた適合試験の良さ【JST・京大機械翻訳】

Goodness of fit test using Lin-Wong divergence based on Type-I censored data
著者 (3件):
資料名:
巻: 49  号:ページ: 2485-2504  発行年: 2020年 
JST資料番号: W5820A  ISSN: 0361-0918  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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2つの異なる方法による適合試験の良さを,タイプI検閲データ内の正常および指数分布を認識するために,本論文で実施した。ここでは,分布間の距離の測定としてLin-Wong発散を用い,経験的分布関数とShannon(1948),エントロピー概念を用いた他のよく知られた距離測度の性能と比較した。さらに,提案した方法を用いた2つの実データ解析手順を示した。Please refer to the publisher for the copyright holders. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (4件):
分類
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パターン認識  ,  図形・画像処理一般  ,  統計学  ,  統計的品質管理 
タイトルに関連する用語 (4件):
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