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J-GLOBAL ID：202002277771846237   整理番号：20A0951002

高周波干渉遮蔽ガスケットの受動相互変調測定【JST・京大機械翻訳】

Passive Intermodulation Measurement of Radiofrequency Interference Shielding Gasket

著者 (8件)： Tariq Raja Usman (School of Electronics and Information Engineering, Xi’an Jiaotong University,China) ,  Ming Ye (School of Electronics and Information Engineering, Xi’an Jiaotong University,China) ,  Zhi Cao (School of Electronics and Information Engineering, Xi’an Jiaotong University,China) ,  Zhang Keyue (School of Electronics and Information Engineering, Xi’an Jiaotong University,China) ,  Yong Zhang (School of Electronics and Information Engineering, Xi’an Jiaotong University,China) ,  Zhang Songchang (School of Electronics and Information Engineering, Xi’an Jiaotong University,China) ,  Zhao Xiaolong (School of Electronics and Information Engineering, Xi’an Jiaotong University,China) ,  He Yongning (School of Electronics and Information Engineering, Xi’an Jiaotong University,China)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2019  号： ACES  ページ： 1-2  発行年： 2019年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 材料の電磁(EM)非線形性の測定は,広範囲の応用に対して最も重要な関心事であり,受動相互変調(PIM)は最も影響力のあるEM非線形性の一つである。マイクロ波領域放射周波数干渉(RFI)遮蔽ガスケットまたは電磁干渉(EMI)遮蔽ガスケットは比較的新しい材料であり,そのEM非線形性はよく知られていない。この研究では,2種類のRFI遮蔽ガスケットと700MHzと1800MHzの周波数帯で使用されるニッケルのビットの3~3次と5次のPIMを測定するために使用されたマイクロストリップベースの技術を用いた。CSTソフトウェアにおけるガスケットの3Dモデリングも示した。広範囲の応用のための材料選択は本研究の可能な結果である。Copyright 2020 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *干渉 ,  マイクロ波 ,  *ガスケット ,  ニッケル ,  マイクロストリップ線路 ,  *HF【周波数】 ,  *相互変調 ,  電磁干渉 ,  非線形性 ,  ソフトウェア ,  周波数帯
準シソーラス用語： 三次元モデリング ,  相互変調測定 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (5件)： 高周波 ,  干渉 ,  遮蔽 ,  ガスケット ,  相互変調測定