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J-GLOBAL ID：202002279550338096   整理番号：20A1362502

並列IGBTにおける電力損失差の周波数および温度依存性の評価【JST・京大機械翻訳】

Evaluation of Frequency and Temperature Dependence of Power Losses Difference in Parallel IGBTs

著者 (4件)： Yang Jianxiong (Key Laboratory of Smart Grid of Ministry of Education, School of Electrical and Information Engineering, Tianjin University, Tianjin, China) ,  Che Yanbo (Key Laboratory of Smart Grid of Ministry of Education, School of Electrical and Information Engineering, Tianjin University, Tianjin, China) ,  Ran Li (State Key Laboratory of Power Transmission Equipment and System Security and New Technology, School of Electrical Engineering, Chongqing University, Chongqing, China) ,  Jiang Huaping (State Key Laboratory of Power Transmission Equipment and System Security and New Technology, School of Electrical Engineering, Chongqing University, Chongqing, China)
資料名： IEEE Access  (IEEE Access)
巻： 8  ページ： 104074-104084  発行年： 2020年 
JST資料番号： W2422A  ISSN： 2169-3536  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 高出力変換器の開発によって,並列チップを有するIGBTモジュールの安全な操作は,重要性を増している。IGBTは,電流不均衡が起こっても,初期操作において安全範囲で正常に動作できる。しかし,不均等な電流状態が長すぎると,均一接合温度を保つことは困難であり,さらに電力損失の不均等な分布につながる。厳しい場合,デバイスと変換器は過熱により損傷を受ける。本論文では,実験による数学的モデリングによるこのような対話型プロセスの安定性を研究した。高電流注入下の温度に対するスイッチングと伝導損失の逆感度のため,並列IGBTチップ間の接合温度不整合の傾向を評価するために,ΔΣ変換点周波数特性の概念を導入した。異なる電流と温度レベルでの変曲点周波数を試験し,モデル予測を検証し,マルチチップ並列モジュールにおけるこの手法の適用性を論じた。並列IGBTのスイッチング周波数と熱安定性限界の間の関係を確立することによって,それはマルチチップ並列電力装置の信頼性を改良するための実行可能な参照を提供できる。Copyright 2020 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 電流 ,  変換器 ,  信頼性 ,  *電力 ,  周波数特性 ,  熱安定性 ,  *温度依存性 ,  不整合 ,  *IGBT
準シソーラス用語： 不均衡 ,  電流注入 ,  *電力損失 ,  スイッチング周波数 ,  接合温度 ,  モデル予測 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： AD・DA変換回路  (NC05080M)

タイトルに関連する用語 (4件)： IGBT ,  電力損失 ,  温度依存性 ,  評価