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J-GLOBAL ID:202002280907483572   整理番号:20A1439321

SiAlONシンチレータを評価するためのマイクロイオンビーム誘起ルミネセンス分光法【JST・京大機械翻訳】

Micro-ion beam-induced luminescence spectroscopy for evaluating SiAlON scintillators
著者 (7件):
資料名:
巻: 477  ページ: 66-72  発行年: 2020年 
JST資料番号: H0899A  ISSN: 0168-583X  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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イオンビーム誘起ルミネセンス(IBIL)分光法を,新しいシンチレータ族の調査のための発光材料キャラクタリゼーションと分析に用いた。連続3MeV陽子マイクロビーム照射の下で,α-SiAlON:Eu,β-SiAlON:Eu,およびCaAlSiN_3(CASN)の結晶構造は,それぞれ,605,540,および670nmのピーク波長で明るいルミネセンスを発光した。照射が進むにつれて,従来のZnS:AgシンチレータのIBIL強度は急激に減少したが,SiAlONとCASNのそれは検出限界内に残った。IBIL分光法をSiAlONシンチレータの個々の結晶粒で行った。β-SiAlON:Euの2つの結晶粒のIBILイメージングと分光法は,大面積ビーム走査から得られたβ-SiAlON:EuのIBILスペクトルの主なピークが,個々の結晶粒からのスペクトルで観察されるいくつかの小さなピークから成ることを示した。著者らの実験結果は,IBILの顕微鏡分光法が発光ターゲットの微視的材料特性化のための有効なツールであることを示唆する。Copyright 2020 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (1件):
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その他の物質の放射線による構造と物性の変化 

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