文献

J-GLOBAL ID：202002281282855308   整理番号：20A2401230

光学素子の残留応力非破壊検査技術の概要【JST・京大機械翻訳】

Residual stress measurement methods of optics

著者 (2件)： Xiao Shilei (電子科技大学光電科学与工程学院,四川 成都 610054) ,  Li Bincheng (電子科技大学光電科学与工程学院,四川 成都 610054)
資料名： Guangdian Gongcheng  (Guangdian Gongcheng)
巻： 47  号： 8  ページ： 47-57  発行年： 2020年 
JST資料番号： C2092A  ISSN： 1003-501X  CODEN： GUGOEC  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 残留応力は光学素子の重要な性能パラメータであり,光学素子の製造と使用にとって非常に重要である。光学素子の残留応力の非破壊検査法は2つの種類に大まかに要約できる。一つは,X線回折法,Stoney曲率法,および顕微Raman分光法を含む,歪に基づく測定方法であり,それらは,結晶と弾性力学解析に基づく,成熟と応用が広い。もう一つは、応力複屈折効果に基づく測定方法であり、デジタル光弾性法、光弾性変調器法及び偏光空洞減衰法を含み、いずれも残留応力による複屈折位相差の測定であり、より直接の光学相関性、測定精度が高い特徴を有する。本文では、光学素子の残留応力測定の一般的な方法の測定原理、測量精度と応用状況をまとめ、それらの性能を分析し、それらの関連性を分析し、光学素子の残留応力非破壊検査のマクロな印象を創立した。Data from Wanfang. Translated by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *残留応力 ,  複屈折 ,  偏光 ,  測定精度 ,  X線回折分析 ,  曲率 ,  弾性力学 ,  光弾性試験 ,  ディジタル方式 ,  *光学素子 ,  非破壊検査 ,  顕微Raman分光法
準シソーラス用語： 位相差 ,  光弾性変調器 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I) ,  光学情報処理  (BD03060T)

タイトルに関連する用語 (4件)： 光学素子 ,  残留応力 ,  非破壊検査 ,  概要