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J-GLOBAL ID：202002281431686922   整理番号：20A1119044

電子リニアックを用いたパラメトリックX線源とその応用-回折強調イメージングとK端差分法による元素検出-

Diffraction-enhanced imaging and elemental imaging based on K-edge subtraction as applications of a parametric X-ray source driven by an electron linac

著者 (2件)： 早川恭史 (日本大 量子科研 電子線利用研究施設) ,  高橋由美子 (日本大 量子科研 電子線利用研究施設)
資料名： 放射光  (日本放射光学会誌)
巻： 33  号： 2  ページ： 87-94  発行年： 2020年03月31日 
JST資料番号： L0956A  ISSN： 0914-9287  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 日本大学電子線利用研究施設では電子リニアックを用いたパラメトリックX線放射(PXR)によるX線源を開発し,連続エネルギー選択性を持つ単色X線ビームをユーザー利用研究に供給している。PXRビーム内のエネルギー分散を利用することで,円錐広がりを持ったX線ビームでありながら完全性の高い単結晶を分光結晶に用いた回折強調イメージング(DEI)が可能である。位相コントラストイメージングに加え,DEIの実験系をK端差分法(KES)に応用可能な特定元素のK殻吸収端を跨いだ2色交差ビームの形成に利用することができる。この2色交差ビームを用いるとKESに必要な2色の像を同時に取得することが可能で,コンピュータ断層撮像(CT)により対象元素の3次元分布が得られる。(著者抄録)

シソーラス用語： *線形加速器 ,  *X線源 ,  X線発生 ,  ビーム ,  画像技術 ,  *画像処理 ,  交差ビーム分光法 ,  トモグラフィー
準シソーラス用語： X線ビーム ,  コヒーレントX線回折イメージング ,  パラメトリックX線放射 ,  リニアック ,  位相コントラストイメージング ,  断層撮像

分類 (2件)： X線技術  (BA02060D) ,  線形加速器  (BE02030I)

引用文献 (30件)：

• P. Oliva, M. Carpinelli, B. Golosio, P. Delogu, M. Endrizzi, J. Park, I. Pogorelsky, V. Yakimenko, O. Williams and J. Rosenzweig: Appl. Phys. Lett. 97, 134104 (2010).
• 日本大学電子線利用研究施設:http://www.lebra.nihon-u.ac.jp/
• Y. Hayakawa, I. Sato, K. Hayakawa, T. Tanaka, H. Nakazawa, K. Yokoyama, K. Kanno, T. Sakai, K. Ishiwata, A. Enomoto, S. Fukuda, S. Ohsawa, K. Tsuchiya and M. Kato: Nucl. Instrum. and Meth. A 483, 29 (2002).
• V. G. Baryshevsky, I. D. Feranchuk and A. P. Ulyanenkov: Parametric X-Ray Radiation in Crystals: Theory, Experiment and Application (Springer Tracts in Modern Physics book series 213) edited by G. Höler (Springer, Berlin, Heidelberg, 2005) .
• 早川恭史:日本加速器学会誌「加速器」6,166(2009).

タイトルに関連する用語 (8件)： 電子 ,  リニアック ,  パラメトリックX線 ,  応用 ,  回折 ,  イメージング ,  差分法 ,  元素