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J-GLOBAL ID:202002281573254157   整理番号:20A2246124

InN単層における欠陥および軽元素(Li,Be,B,C,OおよびF)駆動d→π0磁性【JST・京大機械翻訳】

Defects and light elements (Li, Be, B, C, O and F) driven d0 magnetism in InN monolayer
著者 (3件):
資料名:
巻: 181  ページ: Null  発行年: 2020年 
JST資料番号: E0347A  ISSN: 0042-207X  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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著者らは,InN単分子層を含む固有/外因性点欠陥の構造的,電子的および磁気的性質を計算した。フォノンバンド分散により,元のInN単分子層の安定性を確認した。InN元の単分子層は,間接バンドギャップ,MとΓ高対称性点の間の0.61eVを示した。In_V,N_V,(In/N)_V空格子点,およびIn⇔Nのようなアンチサイト欠陥を,InN単分子層において,光元素,Li,Be,B,C O,および窒素(N)原子サイトでのFドーピングと共に考察した。点欠陥の安定性とドープInN単分子層の理解のための形成エネルギーを計算した。InN単分子層を含むN_Vは構造の中で最も安定な挙動を示した。空孔欠陥In_V,N_Vおよび(In/N)_Vは,それぞれ3.00μ_B,0.00μ_Bおよび2.00μ_B磁気モーメントを示した。しかし,単分子層を含むアンチサイト欠陥はゼロ磁気モーメントを示した。さらに,BeおよびCドープ単分子層は,それぞれ0.91μ_Bおよび1.09μ_B磁気モーメントを示したが,他のドーパントはゼロ磁気モーメントを示した。従って,In_V欠陥に対して最大3.00μ_Bの欠陥を誘起することにより,InN単分子層において磁性の開始を実現できた。Copyright 2020 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (1件):
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半導体薄膜 

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