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J-GLOBAL ID：202002281893292804   整理番号：20A0597544

レーザを使用しないGHzストロボスコープ透過電子顕微鏡 ポンプ-プローブ測定のための成分,システム集積,および実用的考察【JST・京大機械翻訳】

Laser-free GHz stroboscopic transmission electron microscope: Components, system integration, and practical considerations for pump-probe measurements

著者 (14件)： Lau June W. (Materials Science and Engineering Division, National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, Maryland 20899, USA) ,  Schliep Karl B. (Materials Science and Engineering Division, National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, Maryland 20899, USA) ,  Katz Michael B. (Materials Science and Engineering Division, National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, Maryland 20899, USA) ,  Gokhale Vikrant J. (Microsystems and Nanotechnology Division, National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, Maryland 20899, USA) ,  Gorman Jason J. (Microsystems and Nanotechnology Division, National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, Maryland 20899, USA) ,  Jing Chunguang (Euclid Techlabs, LLC, 365 Remington Blvd., Bolingbrook, Illinois 60440, USA) ,  Liu Ao (Euclid Techlabs, LLC, 365 Remington Blvd., Bolingbrook, Illinois 60440, USA) ,  Zhao Yubin (Euclid Techlabs, LLC, 365 Remington Blvd., Bolingbrook, Illinois 60440, USA) ,  Montgomery Eric (Euclid Techlabs, LLC, 365 Remington Blvd., Bolingbrook, Illinois 60440, USA) ,  Choe Hyeokmin (Euclid Techlabs, LLC, 365 Remington Blvd., Bolingbrook, Illinois 60440, USA) ,  Rush Wade (Euclid Techlabs, LLC, 365 Remington Blvd., Bolingbrook, Illinois 60440, USA) ,  Kanareykin Alexei (Euclid Techlabs, LLC, 365 Remington Blvd., Bolingbrook, Illinois 60440, USA) ,  Fu Xuewen (Department of Condensed Matter Physics and Materials Science, Brookhaven National Laboratory, Upton, New York 11973, USA) ,  Zhu Yimei (Department of Condensed Matter Physics and Materials Science, Brookhaven National Laboratory, Upton, New York 11973, USA)
資料名： Review of Scientific Instruments  (Review of Scientific Instruments)
巻： 91  号： 2  ページ： 021301-021301-14  発行年： 2020年 
JST資料番号： D0517A  ISSN： 0034-6748  CODEN： RSINAK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 300keV透過型電子顕微鏡を,励起レーザなしでナノ秒からピコ秒までの時間分解能に対応して,40MHzと12GHzの間で原理的に広帯域パルスビームを作製するために修正した。鍵となる技術は,位相整合変調と脱変調進行波金属櫛ストリップ(パルサー)の対である。30psの初期時間分解能を6.0GHzのストロボ周波数で達成した。銃のすぐ下に設置されたパルサの配置は全ての光学配置の保存を可能にし,他に非修飾装置に利用可能であり,したがって,パルスビームモード(すなわちストロボスコープ時間分解)と従来の連続波形モードの両方の二重使用のためのポスト修正装置を作る。本論文では,ビーム経路に挿入された要素,インサービス顕微鏡との統合中に遭遇する課題,および電場駆動ポンププローブ実験からの初期結果について述べた。このクラスの装置を,周期的で再現性のある現象を調べるために広く適用できると結論した。Copyright 2020 AIP Publishing LLC All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： ナノ秒 ,  プローブ ,  位相整合 ,  ストロボスコープ ,  *透過型電子顕微鏡 ,  広帯域 ,  *レーザ ,  再現性 ,  進行波 ,  パルサー ,  システムインテグレーション ,  ピコ秒 ,  励起 ,  連続波 ,  電場

分類 (5件)： 分光分析  (CC03012W) ,  光学的測定とその装置一般  (BD07010S) ,  質量分析  (CC03013N) ,  磁性材料  (NA04040H) ,  電子分光スペクトル  (BM09060K)

タイトルに関連する用語 (6件)： レーザ ,  GHz ,  ストロボスコープ ,  透過電子顕微鏡 ,  プローブ ,  システム集積