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J-GLOBAL ID：202002281958823358   整理番号：20A0827478

同時評価を用いたGPUベース冗長性解析【JST・京大機械翻訳】

GPU-Based Redundancy Analysis Using Concurrent Evaluation

著者 (3件)： Kim Tae Hyun (Department of Electrical and Electronic Engineering, Computer Systems Reliable SOC Laboratory, Yonsei University, Seoul, South Korea) ,  Lee Hayoung (Department of Electrical and Electronic Engineering, Computer Systems Reliable SOC Laboratory, Yonsei University, Seoul, South Korea) ,  Kang Sungho (Department of Electrical and Electronic Engineering, Computer Systems Reliable SOC Laboratory, Yonsei University, Seoul, South Korea)
資料名： IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems  (IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems)
巻： 28  号： 3  ページ： 805-817  発行年： 2020年 
JST資料番号： W0516A  ISSN： 1063-8210  CODEN： ITCOB4  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 冗長性解析(RA)は,メモリ収率を改善するために不可欠である。メモリサイズの最近の増加はRAをより複雑にした。本論文では,効率的なRA技術である同時評価(GRACE)を用いたグラフィックス処理ユニット(GPU)ベースのRAについて述べた。GRACEにおいて,動的RAを実行するために,試験中に見出されたメモリ故障を,自動試験装置(ATE)における故障ビットマップに保存される代わりに直接解析した。したがって,RAはメモリテストと同時に実行され,RA待ち時間は試験時間後に除去される。GPUを用いて,全ての可能な修復事例を並行して調べた。したがって,短時間で高いメモリ修復率が達成される。また,GRACEは,メモリ冗長性の構造が複雑である実際の環境に適用できる。実験結果は,GRACEが試験の終わりにほとんど同時にRAを完了するので,他のATEベースのRA法より速いことを示した。さらに,GRACEの修復率は,他のRA法のそれらより常に高い。Copyright 2020 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 冗長性 ,  待ち時間 ,  故障 ,  *記憶装置 ,  自動試験
準シソーラス用語： GPU【プロセッサ】 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 半導体集積回路  (NC03162T) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (3件)： 評価 ,  GPU ,  冗長性解析