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J-GLOBAL ID：202002282520948416   整理番号：20A2258564

光ファイバ周波数掃引および周波数固定干渉法を用いた動的クリアランス測定【JST・京大機械翻訳】

Dynamic Clearance Measurement Using Fiber-Optic Frequency-Swept and Frequency-Fixed Interferometry

著者 (4件)： Shao Bin (Key Laboratory of Optoelectronic Technology and Systems, Ministry of Education, Chongqing University, Chongqing, China) ,  Zhang Wei (Key Laboratory of Optoelectronic Technology and Systems, Ministry of Education, Chongqing University, Chongqing, China) ,  Zhang Peng (Key Laboratory of Optoelectronic Technology and Systems, Ministry of Education, Chongqing University, Chongqing, China) ,  Chen Weimin (Key Laboratory of Optoelectronic Technology and Systems, Ministry of Education, Chongqing University, Chongqing, China)
資料名： IEEE Photonics Technology Letters  (IEEE Photonics Technology Letters)
巻： 32  号： 20  ページ： 1331-1334  発行年： 2020年 
JST資料番号： T0721A  ISSN： 1041-1135  CODEN： IPTLEL  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 周波数掃引干渉測定におけるドップラー誘起誤差と遅い測定速度の問題を目的として,新しい動的クリアランス測定法を提案した。周波数掃引と周波数固定干渉法を結合することにより,干渉信号の融合処理を用いて,この方法はドップラー誘起誤差を除去するだけでなく,各サンプリング点で動的クリアランス値を与えることができる。この方法を検証するために,全光ファイバ測定システムを構築し,500Hz三角形および4kHz正弦波振動下の実験を行った。実験結果は,動的クリアランスを正確に再構成できることを示した。Copyright 2020 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 干渉測定 ,  正弦波 ,  再構成 ,  *周波数同期 ,  *光ファイバ ,  計測システム
準シソーラス用語： *周波数掃引 ,  干渉シグナル ,  サンプリング点 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (3件)： 干渉測定と干渉計  (BD07070G) ,  波形,周波数,波長,位相の計測法・機器  (AD07040Y) ,  光導波路,光ファイバ,繊維光学  (BD06030H)

タイトルに関連する用語 (5件)： 光ファイバ ,  周波数掃引 ,  周波数固定 ,  干渉法 ,  クリアランス