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J-GLOBAL ID：202002282621224248   整理番号：20A2524547

Bi₄Ti₃O₁₂セラミック粉末における化学結合の性質のシンクロトロン放射X線回折の証拠とエーロゾル堆積法によって形成された膜の結晶粒配向機構

Synchrotron radiation X-ray diffraction evidence for nature of chemical bonds in Bi₄Ti₃O₁₂ ceramic powders and grain-orientation mechanism of their films formed by aerosol deposition method

著者 (9件)： Abe Tomohiro (Department of Physical Science, Graduate School of Science, Hiroshima University, Higashihiroshima, Hiroshima, 739-8526, Japan) ,  Wu Lin (Department of Physical Science, Graduate School of Science, Hiroshima University, Higashihiroshima, Hiroshima, 739-8526, Japan) ,  Moriyoshi Chikako (Graduate School of Advanced Science and Engineering, Hiroshima University, Higashihiroshima, Hiroshima, 739-8526, Japan) ,  Kuroiwa Yoshihiro (Graduate School of Advanced Science and Engineering, Hiroshima University, Higashihiroshima, Hiroshima, 739-8526, Japan) ,  Suzuki Muneyasu (Human Augmentation Research Center, National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), Kashiwa, Chiba 277-0882, Japan) ,  Suzuki Muneyasu (Advanced Coating Technology Research Center, National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), Tsukuba, Ibaraki 305-8565, Japan) ,  Shinoda Kentaro (Advanced Coating Technology Research Center, National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), Tsukuba, Ibaraki 305-8565, Japan) ,  Aoyagi Rintaro (Advanced Coating Technology Research Center, National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), Tsukuba, Ibaraki 305-8565, Japan) ,  Akedo Jun (Advanced Coating Technology Research Center, National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), Tsukuba, Ibaraki 305-8565, Japan)
資料名： Japanese Journal of Applied Physics  (Japanese Journal of Applied Physics)
巻： 59  号： SP  ページ： SPPA04 (6pp)  発行年： 2020年11月 
JST資料番号： G0520B  ISSN： 0021-4922  CODEN： JJAPB6  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： チタン酸ビスマス(Bi₄Ti₃O₁₂,BiT)セラミック粉末材料の構造特性,およびエアロゾル堆積(AD)法により形成した多結晶膜をシンクロトロン放射X線回折により調べた。明確な板状形状のないBiT粉末を膜堆積のための出発粉末として調製した。電子電荷密度分析は,本研究で合成した特定のBiT粉末が,既知のBiT粉末材料と同じ層状結晶構造を有することを示した。c配向多結晶膜を,AD法により熱処理なしでガラス基板上に室温で堆積した。BiT蒸着したままのAD膜の高配向は,出発粉末の粒子形状よりもBiT結晶中の化学結合の異方性から本質的に生ずる層状結晶構造に起因した。Please refer to the publisher for the copyright holders. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *チタン酸塩 ,  *ビスマス化合物 ,  *セラミック ,  *粉体 ,  化学結合 ,  X線回折 ,  *X線構造解析 ,  蒸着 ,  電荷分布 ,  密度 ,  層状組織 ,  基板 ,  電気装置部品 ,  配向 ,  *チタン酸ビスマス ,  X線結晶構造解析 ,  電荷密度 ,  ガラス基板 ,  放射光X線回折
準シソーラス用語： *セラミック粉末 ,  シンクロトロンX線回折 ,  エアロゾル堆積法 ,  層状構造 ,  配向性

分類 (1件)： 酸化物薄膜  (BK14050P)

タイトルに関連する用語 (9件)： セラミック粉末 ,  化学結合 ,  性質 ,  シンクロトロン放射X線 ,  回折 ,  証拠 ,  エーロゾル堆積法 ,  結晶粒 ,  配向