文献

J-GLOBAL ID：202002282897744700   整理番号：20A2572294

関数-パラメトリック経験的プロセス,射影およびユニタリー演算子【JST・京大機械翻訳】

Function-Parametric Empirical Processes, Projections and Unitary Operators

著者 (1件)： Khmaladze Estate (Victoria University of Wellington, Wellington, New Zealand)
資料名： Springer Proceedings in Mathematics & Statistics  (Springer Proceedings in Mathematics & Statistics)
巻： 339  ページ： 271-283  発行年： 2020年 
JST資料番号： W5074A  ISSN： 2194-1009  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 分布フリー試験の理論に対する別のアプローチを述べた。このアプローチは,経験的プロセスの種々の形式の中で幾何学的類似性を用いる:経験的オブジェクト(経験的分布関数のような)と理論的パラメトリックモデル(分布関数に対するパラメトリックモデルのような)と2つの正規化された差があり,次に,パラメータの推定値の置換が,この差の投影を導く。次に,これらの投影の多数にいくつかのシステムをもたらすことができる。ユニタリー演算子を用いて,統計的問題のクラスを記述し,そこでは,1つの射影をもう1つに「回転」し,その結果,等価問題のクラスを生成する。その結果,各種試験統計の挙動は,各クラスからの1つの「典型的」問題でのみ調査できた。したがって,この手法は,解析的および数値的作業における経済を約束する。また,「回転」に含まれるユニタリー演算子は簡単で容易に実装可能な形式であることを示した。Copyright Springer Nature Switzerland AG 2020 Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 分布関数 ,  パラメータ推定 ,  類似性 ,  *正規化
準シソーラス用語： 線形回帰 ,  パラメトリックモデル , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： 配電フリー試験 ,  離散分布 ,  [数式:原文を参照]における均一な経験的プロセス ,  線形回帰 ,  試験問題の等価性

分類 (4件)： システム・制御理論一般  (IA02010H) ,  確率論  (AB09000O) ,  統計学  (AB08000H) ,  信頼性  (KB04040H)

タイトルに関連する用語 (4件)： 関数 ,  経験 ,  プロセス ,  射影