Liu Yanhong について
School of Instrumentation and Optoelectronic Engineering, Beihang University, Beijing, People’s Republic of China について
Institute of mechanics and acoustics metrology, National Institute of Metrology, Beijing, People’s Republic of China について
Wang Bo について
School of Instrumentation and Optoelectronic Engineering, Beihang University, Beijing, People’s Republic of China について
School of Instrumentation and Optoelectronic Engineering, Beihang University, Beijing, People’s Republic of China について
Measurement Science and Technology について
基準線 について
干渉 について
リモートセンシング について
測定精度 について
計測システム について
ベンチマーク について
有効性 について
検証試験 について
画像解像度 について
空間情報 について
マルチタスク について
地球観測 について
長さ,面積,断面,体積,容積,角度の計測法・機器 について
計測機器一般 について
ビジョン について
マルチ について
ノード について
ベースライン について
較正 について