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J-GLOBAL ID：202002284580221532   整理番号：20A2020288

従来の寿命試験のないオプトエレクトロニックディスプレイのための2つの寿命予測モデル【JST・京大機械翻訳】

Two life prediction models for optoelectronic displays without conventional life tests

著者 (5件)： Zhang Jianping (School of Mechanical Engineering, University of Shanghai for Science and Technology, Shanghai, China) ,  Chen Siyi (College of Energy and Mechanical Engineering, Shanghai University of Electric Power, Shanghai, China) ,  Zong Yu (College of Energy and Mechanical Engineering, Shanghai University of Electric Power, Shanghai, China) ,  Li WenBin (School of Mechanical and Electrical Engineering, Nanchang University, Nanchang, China) ,  Wu Helen (School of Computing, Engineering and Mathematics, University of Western Sydney, Sydney, Australia)
資料名： Luminescence  (Luminescence)
巻： 35  号： 6  ページ： 863-869  発行年： 2020年 
JST資料番号： E0460D  ISSN： 1522-7235  CODEN： JBCHE7  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 短時間にわたるオプトエレクトロニックディスプレイの寿命を正確に予測するために,2つの寿命予測モデルを3パラメータWeibull右近似法(TPWRAM)に基づいて確立した。モデルIでは,各応力下の加速寿命をTPWRAMを用いて求め,加速寿命と加速応力によって形成したデータ点を,それぞれ,3つの外挿関数によって適合させ,最適外挿関数を,フィッティング決定係数と二乗平均平方根誤差を比較することによって決定した。モデルIIでは,加速パラメータを導入した後に,従来の応力下の輝度減衰データを,各加速応力の下でTPWRAMを用いて得たものを結合することによって直接計算した。真空蛍光ディスプレイ(VFD)からの輝度減衰試験データを,一定応力加速劣化試験(ADT)の4つのグループを通して収集して,2つのモデルをVFDの寿命予測に適用した。結果は,設計したADT方式が実行可能であり,モデルIが応力による寿命の変化法則を明らかにして,寿命予測のプロセスを単純化して,モデルIIは従来の寿命試験を実施することなく従来の応力で輝度減衰式を得ることを可能にして,長い時間のかかる伝統的寿命試験の欠点を克服することを示した。2つのモデルが非常に高い精度を有する寿命予測値を比較することによって,これらの両方が従来の寿命試験に頼ることなく,オプトエレクトロニック製品寿命の正確な推定を達成するだけでなく,寿命予測の方法を改善し,そして,その理論的システムを完成することを確認した。Copyright 2020 Wiley Publishing Japan K.K. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 蛍光 ,  外挿法 ,  簡素化 ,  *寿命試験 ,  輝度 ,  近似法 ,  *表示装置 ,  寿命予測
準シソーラス用語： 製品寿命 ,  試験データ ,  決定係数 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： 定応力ADT ,  寿命予測モデル ,  輝度劣化 ,  オプトエレクトロニクスディスプレイ ,  TPWRAM

分類 (2件)： 信頼性  (KB04040H) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (3件)： 寿命試験 ,  寿命予測 ,  モデル