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J-GLOBAL ID：202002285506926062   整理番号：20A2126106

0.1GHz±0.6GHz帯における厚膜材料の複素透磁率の測定【JST・京大機械翻訳】

Measurement of Complex Permeability of Thick Film Materials in the 0.1 GHz0.6GHz Band

著者 (3件)： Yuan Yu Ling (School of University of Electronic Science and Technology, Chengdu China) ,  Liang Di Fei (School of University of Electronic Science and Technology, Chengdu China) ,  Li Wei Jia (School of University of Electronic Science and Technology, Chengdu China)
資料名： Materials Science Forum  (Materials Science Forum)
巻： 1001  ページ： 161-168  発行年： 2020年 
JST資料番号： D0716B  ISSN： 0255-5476  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： スイス (CHE)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 既存の低周波磁気パラメータ試験は主にインピーダンス解析に基づいており,Its試料はリングに調製され,ハード材料は試験のためにリングに加工するのが難しい。材料の小片は,試験のためにリングに切断するのがあまりにも小さいので,インピーダンス解析を用いて試験できない。本論文では,インピーダンス解析の原理とストリップ線の基本理論を用い,0.1Ghz≦0.6GHz周波数帯における磁気バルク厚膜材料の複素透磁率の経験的公式を,設計シミュレーションおよび物理的固定装置による設計および試験を通して得て,それは,試験の前に,損傷およびリング切断を避けることにより,厚膜材料の複素透磁率の試験を容易にした。Copyright 2020 Trans Tech Publications Ltd. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： シミュレーション ,  ストリップ線路 ,  磁気 ,  LF【周波数】 ,  *厚膜 ,  周波数帯
準シソーラス用語： *複素透磁率 ,  インピーダンス解析 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： 複雑な浸透率 ,  インピーダンス解析 ,  ストリップ線路 ,  厚膜材料

分類 (3件)： R,L,C,Q,インピーダンス,誘電率の計測法・機器  (AD07030N) ,  固体デバイス材料  (NC03020K) ,  LCR部品  (NA05030D)

タイトルに関連する用語 (2件)： 厚膜 ,  複素透磁率