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J-GLOBAL ID:202002285521730477   整理番号:20A1235638

純相SnS薄膜におけるSbドーピングの効果

Effect of Sb doping in pure phase SnS thin films
著者 (7件):
資料名:
巻: 59  号: SC  ページ: SCCB11 (7pp)  発行年: 2020年02月 
JST資料番号: G0520B  ISSN: 0021-4922  CODEN: JJAPB6  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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スパッタリングされたSn前駆体を200°C~400°Cの温度範囲で閉管式硫化処理することにより,SnS薄膜を作製した。最適成長温度250°Cでは,ストイキオメトリ組成(S/Sn=1.03)を持つ純粋な斜方晶SnS相が得られた。成長後の膜の正孔濃度,抵抗率及び正孔移動度は,それぞれ1.3×1016cm-3,95.5Ωcm,および5cm2V-1s-1であることがわかった。その後,Sb蒸気圧を制御した熱拡散法によりSbをドープした。Sbを用いた熱アニールにより,SnS膜の結晶性が向上した。Sb濃度が0.55%以上の場合,キャリア補償の効果が認められた。1.38%のSbを添加した場合,電気抵抗率は5.65×104Ωcm,キャリア濃度は1.2×1014cm-3となった。活性化エネルギーは0.20eVであったが,Sbを添加した試料(1.08%)の活性化エネルギーは30meVであった。すべてのドープSnS膜で最大値12cm2V-1s-1の移動度の増加が観測された。しかし,すべてのドープ膜でp型導電性を維持していることがわかった。Please refer to the publisher for the copyright holders. Translated from English into Japanese by JST.
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半導体薄膜 
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