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J-GLOBAL ID:202002286969935686   整理番号:20A0333984

トカマクプラズマで外部励起した電子Bernstein波のパワー堆積領域のマッピング【JST・京大機械翻訳】

Mapping of power deposition zone of electron Bernstein waves externally excited in tokamak plasmas
著者 (3件):
資料名:
巻: 61  号: 10  ページ: 105017 (18pp)  発行年: 2019年 
JST資料番号: D0471A  ISSN: 0741-3335  CODEN: PLPHBZ  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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トロイダルプラズマにおいて,上部ハイブリッド共鳴(UHR)層でのX波から変換された電子Bernstein(EB)波モードは高磁場側に向かって伝搬し,電子サイクロトロン共鳴(ECR)層に到着する前にDopplerシフト周波数でサイクロトロン減衰した。得られたパワー堆積プロファイルは,局所密度,温度および場プロファイルに依存し,通常,不均一磁化プラズマにおけるEB波伝搬および吸収に対する光線追跡技術を用いて解析される。軸対称トカマクプラズマにおいて,EB波の光線追跡方程式はポテンシャル場における粒子運動の方程式の形にキャストできる。粒子軌跡とその運動量は,それぞれ波動軌跡と屈折率に対応した。ポテンシャル場は,EB波の分散特性を反映している。すなわち,垂直屈折率は,ECR層に沿ったポテンシャルの深いトレンチを作る,低磁場側からのECR層への波動アプローチとして強く増加する。したがって,EB波はECR層に垂直に接近し,ECR層近傍の共鳴電子の平行屈折率と平行速度を推定できる。したがって,可能なパワー堆積ゾーンをマッピングすることができ,関連する電流駆動効率は,光線追跡計算(直接マッピング)なしで,波動周波数とプラズマプロファイルに関する情報から直接推定される。適度に高密度のプラズマの場合,マッピングされたゾーンは,モード変換のXBとOXBスキームの両方に対する光線追跡結果と一致することが示された。高密度,低安全率および低アスペクト比プラズマの場合,ω/Ω_ceはUHR層において二つに近く,第二高調波サイクロトロン減衰は,パラメータに依存して,OXBモード変換直後の光線軌跡に沿って起こる。ここでは,ωは波動周波数であり,Ω_ceは局所サイクロトロン周波数である。直接写像もこの場合にも働くことを示した。直接マッピング技術は,EB波伝搬と吸収の上記の描像に基づいており,光線追跡解析をガイドし,光線追跡結果を交差チェックするのに有用である。Please refer to the publisher for the copyright holders. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (1件):
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プラズマ平衡・閉込め 
タイトルに関連する用語 (5件):
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