文献

J-GLOBAL ID：202002287189332124   整理番号：20A2120329

透明強誘電体の複屈折場変調イメージング【JST・京大機械翻訳】

Birefringent Field-Modulation Imaging of Transparent Ferroelectrics

著者 (6件)： Uemura Yohei (Department of Applied Physics, The University of Tokyo, Tokyo 113-8656, Japan) ,  Matsuoka Satoshi (Department of Applied Physics, The University of Tokyo, Tokyo 113-8656, Japan) ,  Tsutsumi Jun’ya (Research Institute for Advanced Electronics and Photonics (RIAEP), National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), Tsukuba, Ibaraki 305-8565, Japan) ,  Horiuchi Sachio (Research Institute for Advanced Electronics and Photonics (RIAEP), National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), Tsukuba, Ibaraki 305-8565, Japan) ,  Arai Shunto (Department of Applied Physics, The University of Tokyo, Tokyo 113-8656, Japan) ,  Hasegawa Tatsuo (Department of Applied Physics, The University of Tokyo, Tokyo 113-8656, Japan)
資料名： Physical Review Applied  (Physical Review Applied)
巻： 14  号： 2  ページ： 024060  発行年： 2020年 
JST資料番号： W3691A  ISSN： 2331-7019  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 強誘電分域と分域壁の観察は,強誘電スイッチング特性を理解するために不可欠である。ここでは,一次電気光学効果(Pockels効果)と結合した光複屈折の利用により,透明強誘電体材料における強誘電分域の可視化が可能になることを示した。前方および逆電場応用間の並列および交差Nicol偏光光学顕微鏡画像におけるわずかな差を検出するために,相補的金属-オキシド-半導体(CMOS)領域画像センサを用いて,磁場変調イメージング技術を利用した。逆平行分極を有する強誘電体ドメインは,外向き楕円偏光の楕円変調の符号によって互いに明確に識別される。観察された画像は,2-メチルベンゾイミダゾール(MBI)の透明単結晶膜の圧電応答力顕微鏡画像と一致した。両偏光配置での変調信号は,MBI膜の異方性のために,波長分散において明確な符号変化を示した。独特の光学プローブの性質も,異なる三次元配向を有する2種類のドメイン壁の存在を明らかにした。Copyright 2020 The American Physical Society All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *強誘電体 ,  磁場 ,  電場 ,  半導体 ,  *複屈折 ,  分極 ,  偏光 ,  酸化物 ,  光学顕微鏡 ,  可視化 ,  *画像処理 ,  強誘電分域 ,  楕円偏光 ,  三次元 ,  イメージセンサ

分類 (5件)： 光学的測定とその装置一般  (BD07010S) ,  光学情報処理  (BD03060T) ,  強誘電体,反強誘電体,強弾性  (BM05030B) ,  生体計測  (EL03020C) ,  偏光測定と偏光計  (BD07050K)

タイトルに関連する用語 (4件)： 強誘電体 ,  複屈折 ,  変調 ,  イメージング