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J-GLOBAL ID：202002287635104294   整理番号：20A0800254

自立膜を隔壁としたHeパスによる大気圧下軟X線吸収分光装置の開発

Development of Soft X-ray Absorption Spectroscopic Equipment at Atmospheric Pressure Using He-path with a Free-Standing Membrane as a Partition Wall

著者 (4件)： 新部正人 (兵庫県大 高度産業科技研) ,  堀川裕加 (山口大 大学院創成科学研究科) ,  徳島高 (兵庫県大 高度産業科技研) ,  徳島高 (Lund Univ., Lund, SWE)
資料名： X線分析の進歩  (X線工業分析)
巻： 51  ページ： 41-48  発行年： 2020年03月31日 
JST資料番号： Z0547B  ISSN： 0911-7806  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 揮発性物質や液体を大気圧下で,安価でかつ簡便に軟X線分光測定できる吸収分光装置を新規に開発した。この装置は厚さ100nmの薄型SiN自立膜を圧力隔壁とし,Heを満たした容器中に試料を置くことにより,電子収量法および蛍光収量法を用いて,試料の自由表面の軟X線分光測定ができる。この装置を用いて,標準固体試料,揮発性の高い固体試料,および水など数種類の液体試料について,O-K,C-K,Ti-L端における軟X線吸収スペクトルを大気圧下で測定することができた。(著者抄録)

シソーラス用語： *膜 ,  隔壁 ,  *軟X線 ,  *スペクトロメータ ,  *放射光施設 ,  ヘリウム ,  窒化ケイ素 ,  X線吸収 ,  X線吸収スペクトル
準シソーラス用語： *自立膜 ,  NewSUBARU ,  K吸収

分類 (1件)： X線技術  (BA02060D)

引用文献 (10件)：

• 野本豊和他:化学工業,79,598(2015).
• Y. Tamenori: J. Synchrotron Rad., 14, 243 (2007).
• M. Nagasaka, et al.: J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom., 177, 130 (2010).
• 徳島 高,原田慈久,辛 埴:日本物理学会誌,63,852(2008).
• M. Niibe, et al.: Synchrotron Radiation Instrumentation, AIP Conf. Proc., 705, 576 (2004).

タイトルに関連する用語 (8件)： 自立膜 ,  隔壁 ,  He ,  パス ,  大気圧 ,  軟X線 ,  分光装置 ,  開発