文献

J-GLOBAL ID：202002288473529285   整理番号：20A2487990

CMOS論理セルと回路の信頼性の正確な計算【JST・京大機械翻訳】

Accurate Calculation of Unreliability of CMOS Logic Cells and Circuits

著者 (1件)： Beg Azam (College of Information Technology, United Arab Emirates University, Al-Ain, Abu Dhabi, UAE)
資料名： Journal of Circuits, Systems, and Computers  (Journal of Circuits, Systems, and Computers)
巻： 29  号： 13  ページ： 2050202  発行年： 2020年 
JST資料番号： W0526A  ISSN： 0218-1266  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： シンガポール (SGP)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 現代の十ナノメータサイズのMOSトランジスタは,そのようなトランジスタから構築された回路の信頼性を正確に推定するための必要性を過小評価する,高い故障率を示す傾向がある。本論文は,個々のトランジスタから完全な論理回路まで拡張する信頼性計算のための方法論を提示する。論理セルまたは論理回路の信頼性はトランジスタのドレインソースとゲートソース電圧に大きく依存したので,SPICEシミュレーションを用いて個々のトランジスタの電圧を決定した。次に,電圧測定を数学的方程式によって利用して,高精度で信頼性を予測した。提案した方法論に基づくスケーラブルなフレームワークを成功裏に実行した。このフレームワークをISCAS85ベンチマーク回路を用いて検証した。Copyright 2020 World Scientific Publishing Company All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： シミュレーション ,  電圧 ,  トランジスタ ,  計算機シミュレーション ,  故障率 ,  *信頼性 ,  数学モデル ,  MOSFET ,  論理回路 ,  電圧測定 ,  回路シミュレーション ,  *CMOS
準シソーラス用語： ベンチマーク回路 ,  *論理セル , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (9件)： 回路シミュレーション ,  CMOS集積回路 ,  設計最適化 ,  フォールトトレランス ,  論理回路 ,  数学モデル ,  失敗の確率 ,  信頼性 ,  半導体装置の信頼性

分類 (3件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  半導体集積回路  (NC03162T) ,  論理回路  (NC05070B)

タイトルに関連する用語 (4件)： CMOS ,  論理セル ,  回路の信頼性 ,  計算