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J-GLOBAL ID：202002288749691149   整理番号：20A0486925

Bilmix:小角X線散乱データを用いたリポソームからの脂質二分子層のサイズ多分散性と電子密度プロファイルを回復させる新しいアプローチ【JST・京大機械翻訳】

BILMIX: a new approach to restore the size polydispersity and electron density profiles of lipid bilayers from liposomes using small-angle X-ray scattering data

著者 (10件)： Konarev Petr V. (A. V. Shubnikov Institute of Crystallography, Federal Scientific Research Centre `Crystallography and Photonics’ of Russian Academy of Sciences, Moscow, Russian Federation) ,  Konarev Petr V. (National Research Centre `Kurchatov Institute’, Moscow, Russian Federation) ,  Petoukhov Maxim V. (A. V. Shubnikov Institute of Crystallography, Federal Scientific Research Centre `Crystallography and Photonics’ of Russian Academy of Sciences, Moscow, Russian Federation) ,  Petoukhov Maxim V. (A. N. Frumkin Institute of Physical Chemistry and Electrochemistry of Russian Academy of Sciences, Moscow, Russian Federation) ,  Dadinova Liubov A. (A. V. Shubnikov Institute of Crystallography, Federal Scientific Research Centre `Crystallography and Photonics’ of Russian Academy of Sciences, Moscow, Russian Federation) ,  Fedorova Natalia V. (A. N. Belozersky Institute of Physico-Chemical Biology, Moscow State University, Moscow, Russian Federation) ,  Volynsky Pavel E. (Shemyakin-Ovchinnikov Institute of Bioorganic Chemistry, Russian Academy of Sciences, Moscow, Russian Federation) ,  Svergun Dmitri I. (EMBL Hamburg Unit, European Molecular Biology Laboratory, Hamburg, Germany) ,  Batishchev Oleg V. (A. N. Frumkin Institute of Physical Chemistry and Electrochemistry of Russian Academy of Sciences, Moscow, Russian Federation) ,  Shtykova Eleonora V. (A. V. Shubnikov Institute of Crystallography, Federal Scientific Research Centre `Crystallography and Photonics’ of Russian Academy of Sciences, Moscow, Russian Federation)
資料名： Journal of Applied Crystallography  (Journal of Applied Crystallography)
巻： 53  号： 1  ページ： 236-243  発行年： 2020年 
JST資料番号： D0631A  ISSN： 0021-8898  CODEN： JACGAR  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 小角X線散乱(SAXS)はモデル膜の研究の主要なツールの一つであるが,散乱データの解釈は自明ではない。現在のアプローチは,いくつかの構造パラメータの抽出と脂質二分子層の電子密度プロファイルを可能にする。ここでは,パラメトリックモデリングを用いて球状または楕円体ベシクルの多分散性を決定し,脂質二分子層を横切る電子密度分布を記述することができることを示した。このアプローチは計算機プログラムBILMIXに実装される。BILMIXはSAXSデータから脂質二分子層の電子密度の記述を提供し,同時に単ラメラ脂質ベシクルの対応するサイズ分布を生成する。Copyright 2020 Wiley Publishing Japan K.K. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *多分散性 ,  *小角X線散乱 ,  *脂質二分子膜 ,  密度分布 ,  *電子密度 ,  *散乱 ,  ベシクル ,  *リポソーム ,  計算機プログラム ,  構造パラメータ ,  楕円体
準シソーラス用語： サイズ分布 ,  脂質ベシクル ,  電子密度分布 ,  パラメトリックモデリング , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (6件)： 小角X線散乱 ,  SAXS ,  リポソーム ,  電子密度プロファイル ,  脂質二重層 ,  サイズ多分散性

分類 (1件)： X線回折法  (BK01020I)

タイトルに関連する用語 (8件)： 小角X線散乱 ,  リポソーム ,  脂質二分子層 ,  サイズ ,  多分散性 ,  電子 ,  密度プロファイル ,  回復