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J-GLOBAL ID：202002290644754043   整理番号：20A2661787

独立発光スペクトル非混合FRETの測定誤差のシミュレーション【JST・京大機械翻訳】

Simulation of the measurement error of independent emission-spectral unmixing FRET

著者 (6件)： Lin Tingting (Fujian Normal Univ. (China)) ,  Tang Shuzhen (Fujian Normal Univ. (China)) ,  Zhong Haoran (Fujian Normal Univ. (China)) ,  Lin Yating (Fujian Normal Univ. (China)) ,  Lin Juqiang (Fujian Normal Univ. (China)) ,  Huang Yimei (Fujian Normal Univ. (China))
資料名： Proceedings of SPIE  (Proceedings of SPIE)
巻： 11553  ページ： 115531L-6  発行年： 2020年 
JST資料番号： D0943A  ISSN： 0277-786X  CODEN： PSISDG  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 独立発光-スペクトル非混合蛍光共鳴エネルギー移動,Iem-spFRETは,リアルタイムでFRET効率を測定する新規で強力なツールである。本論文では,サンプルデータ,ドナー指紋,およびアクセプタ指紋におけるランダム雑音を導入することによって,Iem-spFRETの測定誤差をシミュレーションした。ランダム雑音強度は0.0005から0.0025に設定され,最大ドナー指紋強度の5%~25%に相当する。シミュレーション結果は,見かけのFRET効率(E_fD)に対するランダムノイズの影響は,受容体対ドナー濃度比(R_c)よりも少ないことを示した。10%の最大ドナー指紋強度を有するランダムノイズは,ノイズをサンプルと指紋の両方に加えるとき,0.33%の変動をもたらすだけであった。これらの結果は,Iem-spFRETがロバストな方法であり,弱いFRET信号の場合に適用できることを示した。COPYRIGHT SPIE. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： アクセプタ ,  雑音 ,  *シミュレーション ,  ドナー ,  *発光 ,  *発光スペクトル ,  測定誤差 ,  受容体 ,  *スペクトル ,  不規則雑音 ,  指紋 ,  ロバスト性 ,  *蛍光共鳴エネルギー移動
準シソーラス用語： 実時間 ,  濃度比 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： パターン認識  (JE07000S)

タイトルに関連する用語 (4件)： 発光スペクトル ,  FRET ,  測定誤差 ,  シミュレーション