文献

J-GLOBAL ID：202002290759257177   整理番号：20A0260794

半導体製造工程における外観検査&マシンビジョンテクノロジー 6面外観検査技術 コンセプト装置「無双II」

著者 (1件)： 亀田明彦 (ヴィスコ・テクノロジーズ)
資料名： 画像ラボ  (Image Laboratory)
巻： 31  号： 1  ページ： 67-70  発行年： 2020年01月10日 
JST資料番号： L2340A  ISSN： 0915-6755  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 樹脂成形物のような立体形状の製品の全6面を検査するコンセプト装置「無双II」は,「画像一筋」=画像処理のエキスパート集団,ヴィスコ・テクノロジーズが考える,「より良い検査の形」の一つの具体例。死角なく,高速・高精度に。少量多品種にも対応可。(著者抄録)

シソーラス用語： *画像処理 ,  *外観検査 ,  FMS【生産】 ,  技術 ,  *半導体プロセス
準シソーラス用語： *マシンビジョン画像処理 ,  モデル検査技術 ,  多品種少量自動生産システム

分類 (3件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I) ,  集積回路一般  (NC03161C) ,  品質検査  (KB04020L)

タイトルに関連する用語 (5件)： 半導体製造工程 ,  外観検査 ,  マシンビジョン ,  テクノロジー ,  コンセプト