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J-GLOBAL ID:202002292225498102   整理番号:20A2631481

光検出器応用のためのNdドープZnOナノワイヤのオプトエレクトロニクスパラメータの増強【JST・京大機械翻訳】

Enhancement of optoelectronic parameters of Nd-doped ZnO nanowires for photodetector applications
著者 (12件):
資料名:
巻: 109  ページ: Null  発行年: 2020年 
JST資料番号: W0468A  ISSN: 0925-3467  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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プリスチンおよびネオジムドープ(3,6および9wt%)ZnOナノ構造薄膜を化学浴法を用いてガラス基板上に堆積させた。構造,トポグラフィー,光ルミネセンスおよびUV検出特性の変化を調べた。XRD研究は,(002)ピークの強い罹患率を持つ六方晶構造のZnO相を確認した。Ndドーピングは,成長した材料のバンドギャップ値を3.33から3.18eVに減少させた。成長したナノワイヤの光ルミネセンス研究は,それぞれ387,412,438,452,477,525nmのルミネセンス中心の存在を示した。Ndドーピング量が0から6%に増加すると光電流値は5.37×10-7から3.77×10-6Aに増加した。純粋及びドープ試料の応答性,外部量子効率及び検出性も調べた。6%のNdドープ試料は光電子パラメータの改善された値を示し,それが光検出器応用の有望な候補であることを示した。Copyright 2020 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (1件):
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半導体のルミネセンス 

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