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J-GLOBAL ID：202002293104638652   整理番号：20A0680048

交差相互接続の高信頼レジスタ【JST・京大機械翻訳】

A Highly Reliable Latch With Cross-Connection

著者 (6件)： Huang Zhengfeng (合肥工業大学電子科学与応用物理学院,安徽合肥,230009) ,  Guo Yang (合肥工業大学電子科学与応用物理学院,安徽合肥,230009) ,  Wang Xinyu (合肥工業大学電子科学与応用物理学院,安徽合肥,230009) ,  Qi Haochen (合肥工業大学電子科学与応用物理学院,安徽合肥,230009) ,  Xu Qi (合肥工業大学電子科学与応用物理学院,安徽合肥,230009) ,  Lu Yingchun (合肥工業大学電子科学与応用物理学院,安徽合肥,230009)
資料名： Cekong Jishu  (Cekong Jishu)
巻： 38  号： 11  ページ： 95-100  発行年： 2019年 
JST資料番号： C2879A  ISSN： 1000-8829  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 現在、CMOSプロセスの特徴寸法の減少に伴い、回路中に単粒子反転(SingleEventUpset,SEU)の敏感なノード間の距離が絶えず減少する。高エネルギー粒子によって起こる多くのノードが同時に反転する事象の確率が徐々に上昇している。回路の信頼性を高めるため、耐放射線強化設計方法に基づいて、2つのノードが同時に反転するロックインを許容できる方法を提案した。このラッチはデュアルインプットインバータ(Double-inputInverter,DI)ユニットをコアデバイスとし、またDIユニットの間にクロスカップリングの接続方式を採用し、デバイスの個数の使用を低減した。従来のフォールトトレランス能力を有するラッチと比較して,提案した構造は,二重点反転能力だけでなく,消費電力,遅延,および消費電力遅延積(PowerDelayProduct,PDP)において,大きな利点を持っている。この構造は信頼性が高く、性能も優れ、チップの信頼性を高める上で重要な意義があり、実用価値がある。Data from Wanfang. Translated by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 信頼性 ,  *レジスタ ,  放射線 ,  消費電力 ,  交差カップリング反応 ,  *相互接続 ,  フォールトトレランス
準シソーラス用語： 電力遅延積 ,  CMOSプロセス , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 半導体集積回路  (NC03162T)

タイトルに関連する用語 (3件)： 交差 ,  相互接続 ,  レジスタ