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J-GLOBAL ID：202002294589655421   整理番号：20A0432589

加速器混合場ソフトエラー率に対する直接イオン化の影響【JST・京大機械翻訳】

Direct Ionization Impact on Accelerator Mixed-Field Soft-Error Rate

著者 (27件)： Alia Ruben Garcia (CERN, Gene`ve, Switzerland) ,  Gilardoni Simone (CERN, Gene`ve, Switzerland) ,  Infantino Angelo (CERN, Gene`ve, Switzerland) ,  Kastriotou Maria (CERN, Gene`ve, Switzerland) ,  Kerboub Nourdine (CERN, Gene`ve, Switzerland) ,  Lerner Giuseppe (CERN, Gene`ve, Switzerland) ,  Wyrwoll Vanessa (CERN, Gene`ve, Switzerland) ,  Ferlet-Cavrois Veronique (European Space Agency, ESTEC, Noordwijk, The Netherlands) ,  Boatella Cesar (European Space Agency, ESTEC, Noordwijk, The Netherlands) ,  Javanainen Arto (Department of Physics, University of Jyvaeskylae, Jyvaeskylae, Finland) ,  Kettunen Heikki (Department of Physics, University of Jyvaeskylae, Jyvaeskylae, Finland) ,  Tali Maris (CERN, Gene`ve, Switzerland) ,  Morilla Yolanda (Centro Nacional de Aceleradores, CSIC, JA, Universidad de Seville, Seville, Spain) ,  Martin-Holgado Pedro (Centro Nacional de Aceleradores, CSIC, JA, Universidad de Seville, Seville, Spain) ,  Gaillard Remi (Independent Consultant, Saint-Arnoult, France) ,  Wrobel Frederic (Institut d’Electronique du Sud, Universite ́ de Montpellier II/CNRS, Montpellier, France) ,  Cazzaniga Carlo (Rutherford Appleton Laboratory, STFC, Didcot, U.K.) ,  Alexandrescu Dan (IROC Technologies, Grenoble, France) ,  Glorieux Maximilien (IROC Technologies, Grenoble, France) ,  Puchner Helmut (Aerospace and Defense Division, Cypress Semiconductor, San Jose, CA, USA) ,  Brugger Markus (CERN, Gene`ve, Switzerland) ,  Cecchetto Matteo (CERN, Gene`ve, Switzerland) ,  Cerutti Francesco (CERN, Gene`ve, Switzerland) ,  Cononetti Andrea (CERN, Gene`ve, Switzerland) ,  Danzeca Salvatore (CERN, Gene`ve, Switzerland) ,  Esposito Luigi (CERN, Gene`ve, Switzerland) ,  Fernandez-Martinez Pablo (CERN, Gene`ve, Switzerland)
資料名： IEEE Transactions on Nuclear Science  (IEEE Transactions on Nuclear Science)
巻： 67  号： 1  ページ： 345-352  発行年： 2020年 
JST資料番号： C0235A  ISSN： 0018-9499  CODEN： IETNAE  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 測定とシミュレーションにより,加速器ソフトエラー率(SER)に対する可能な直接イオン化の影響を,標準的な認定アプローチでは考慮しないことを調べた。結果は,65~16nmの技術的範囲で考慮されている幅広い最新の商業部品に対して,間接イオン化が,加速器混合場における全体的なSERを支配することが依然として期待されていることを示している。しかし,約0.7fCに対応する最も敏感な部分の誘導された臨界電荷は,急速な直接イオン化支配とソフトエラー増加の限界にあると期待される。Copyright 2020 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *加速器 ,  *イオン化 ,  臨界 ,  電荷 ,  *ソフトエラー
準シソーラス用語： *ソフトエラー率 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 半導体の放射線による構造と物性の変化  (BK16123E) ,  半導体集積回路  (NC03162T)

タイトルに関連する用語 (3件)： 加速器 ,  ソフトエラー率 ,  イオン化