特許
J-GLOBAL ID：202003000669119490
検品処理装置、検品システム、商品マスタ登録装置、検品処理方法及びプログラム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
棚井 澄雄
, 森 隆一郎
, 松沼 泰史
, 伊藤 英輔
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-069899
公開番号（公開出願番号）：特開2017-178574
特許番号：特許第6724484号
出願日： 2016年03月31日
公開日（公表日）： 2017年10月05日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 検品商品と検品数量とを含む検品データと、当該検品データに含まれる検品商品および検品数量と一致する商品群を撮像した検品対象画像に基づいて、前記検品商品ごとの画像を特定する商品画像決定部と、
前記商品画像決定部が特定した画像を記憶部に登録する商品データ登録部と、
前記記憶部が記憶する画像に基づいて、新たな検品データに対応する検品対象画像に含まれる商品を特定する照合部と、
を備える検品処理装置。
IPC (5件)：
G06T 7/00 ( 201 7.01)
, G01G 19/52 ( 200 6.01)
, G06Q 50/28 ( 201 2.01)
, G06T 1/00 ( 200 6.01)
, B65G 1/137 ( 200 6.01)
G06T 7/00 300 F
, G01G 19/52 Z
, G06Q 50/28
, G06T 1/00 280
, B65G 1/137 E
