特許
J-GLOBAL ID：202003000824323848

検証装置

発明者：
芝▲崎▼ 泰弘

芝▲崎▼ 泰弘 について


出願人/特許権者：
ファナック株式会社

ファナック株式会社 について


代理人 (1件)： あいわ特許業務法人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2018-170951
公開番号（公開出願番号）：特開2020-042673
出願日： 2018年09月12日
公開日（公表日）： 2020年03月19日
要約：
【課題】工場等の製造現場において用いられる機械学習装置の学習に係る検証を行う検証装置を提供すること。【解決手段】本発明の検証装置1は、学習データ記憶部200に記憶された学習データに基づく学習により学習モデルを生成する学習部310と、学習データ記憶部200に記憶された学習データに基づいて、学習モデルを用いた推論を行う推論部320と、学習データ記憶部200に記憶された学習データを解析するための解析手法及び該解析における基準を定めた解析仕様に従って、推論部320の推論の結果を用いて学習データ記憶部200に記憶された学習データを解析する解析部120と、解析部120による解析の結果に従って、学習データ記憶部200に記憶された学習データを加工する加工部130と、を備える。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
学習データ記憶部に記憶される学習データの妥当性を検証する検証装置において、 前記学習データ記憶部に記憶された学習データに基づく学習により学習モデルを生成する学習部と、 前記学習データ記憶部に記憶された学習データに基づいて、前記学習モデルを用いた推論を行う推論部と、 前記学習データ記憶部に記憶された学習データを解析するための解析手法及び該解析における基準を定めた解析仕様に従って、前記推論部の推論の結果を用いて前記学習データ記憶部に記憶された学習データを解析する解析部と、 前記解析部による解析の結果に従って、前記学習データ記憶部に記憶された学習データを加工する加工部と、 を備える検証装置。
IPC (2件)：
G05B 23/02 ,  G06N 20/00
FI (2件)：
G05B23/02 Z ,  G06N99/00 150
Fターム (12件)：
3C100AA70 ,  3C100BB13 ,  3C100BB33 ,  3C223AA11 ,  3C223BA03 ,  3C223BB12 ,  3C223CC02 ,  3C223DD03 ,  3C223EB02 ,  3C223FF26 ,  3C223GG01 ,  3C223HH02
引用特許：
審査官引用 (2件)

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