特許
J-GLOBAL ID：202003002529140718
特徴量選択装置、特徴量選択方法及び特徴量選択プログラム
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (5件)：
稲葉 良幸
, 大貫 敏史
, 江口 昭彦
, 内藤 和彦
, 伊藤 健太郎
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2018021253
公開番号（公開出願番号）：WO2018-235568
出願日： 2018年06月01日
公開日（公表日）： 2018年12月27日
要約：
イジングマシンを用いて、選択する特徴量の数を少なくしつつ、強学習器の分析精度を向上させるような特徴量を選択することができる特徴量選択装置等を提供する。特徴量選択装置は、二値変数を引数とする目的関数を最小化又は最大化する二値変数の値を確率的に求めるイジングマシンを用いて特徴量を選択する特徴量選択装置であって、複数の特徴量のうち、1又は複数の弱学習器に入力される1又は複数の特徴量の重複を除いた数を表す第2正則化項を目的関数に設定する第3設定部と、イジングマシンにより求められた第1二値変数の値に基づいて、複数の特徴量から1又は複数の特徴量を選択する選択部と、を備える。
請求項（抜粋）：
二値変数を引数とする目的関数を最小化又は最大化する前記二値変数の値を確率的に求めるイジングマシンを用いて特徴量を選択する特徴量選択装置であって、
複数の特徴量の全部又は一部を入力とする複数の弱学習器のうち、第1二値変数により選択される1又は複数の弱学習器の出力を統合した強学習器の出力の誤差を表す項を前記目的関数に設定する第1設定部と、
前記1又は複数の弱学習器の数を表す第1正則化項を前記目的関数に設定する第2設定部と、
前記複数の特徴量のうち、前記1又は複数の弱学習器に入力される1又は複数の特徴量の重複を除いた数を表す第2正則化項を前記目的関数に設定する第3設定部と、
前記イジングマシンにより求められた、前記目的関数を最小化又は最大化する前記第1二値変数の値を取得する取得部と、
前記第1二値変数の値に基づいて、前記複数の特徴量から1又は複数の特徴量を選択する選択部と、
を備える特徴量選択装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G06N20/00 130
, G06N10/00
