特許
J-GLOBAL ID:202003002780883967

真円度計測装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 野田 茂
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2016-151811
公開番号(公開出願番号):特開2018-021327
特許番号:特許第6721450号
出願日: 2016年08月02日
公開日(公表日): 2018年02月08日
請求項(抜粋):
【請求項1】 シールドマシンによって円筒壁状に組み立てたセグメントの内周面の真円度を計測する真円度計測装置であって、 レーザー光を照射し対象物で反射された反射光を受光して前記対象物までの距離を検出する距離検出部と、 前記セグメントの内周面と前記シールドマシンの軸心と直交する仮想平面とが交差することで形成される環状の交差線に沿って前記レーザー光が照射されるように前記距離検出部から照射された前記レーザー光を前記シールドマシンの軸心に沿って延在する第1の軸線の回りに回転走査させると共に、前記回転走査された前記レーザー光が前記セグメントの内周面で反射された前記反射光を前記レーザー光の光路と同一の光路を介して前記距離検出部に導く走査部と、 前記回転走査される前記レーザー光の前記第1の軸線の回りの回転角度を検出する回転角度検出部と、 前記距離検出部で検出された距離と、前記回転角度検出部で検出された回転角度とに基いて、前記環状の交差線がなす楕円を特定し、前記特定した楕円に基いて前記内周面の真円度を算出する真円度算出部と、 を備えることを特徴とする真円度計測装置。
IPC (1件):
E21D 11/40 ( 200 6.01)
FI (2件):
E21D 11/40 Z ,  E21D 11/40 B

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