特許

J-GLOBAL ID：202003003035628293

全イオウ連続濃縮測定システム

発明者： 長沢 尚三 ,  白井 孝 ,  内垣 真由美
出願人/特許権者： 株式会社ジェイ・サイエンス・ラボ
代理人 (3件)： 中尾 俊輔 ,  伊藤 高英 ,  前野 房枝
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-098506
公開番号（公開出願番号）：特開2017-207321
特許番号：特許第6697192号
出願日： 2016年05月17日
公開日（公表日）： 2017年11月24日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 イオウ化合物を含む水素ガスからなるサンプルガスを加熱することにより前記イオウ化合物を硫化水素に変換させる反応炉と、 前記反応炉から取り出されたサンプルガスを貯留するサンプリングユニットと、 前記サンプリングユニットに貯留されたサンプルガスを濃縮トラップして濃縮サンプルガスとする濃縮ユニットと、 前記サンプリングユニットに貯留されたサンプルガスおよび前記濃縮ユニットに濃縮トラップされた濃縮サンプルガス中の前記イオウ化合物の濃度を測定する分析計と を有することを特徴とする全イオウ連続濃縮測定システム。

IPC (3件)：

G01N 31/00 ( 200 6.01) ,  G01N 1/22 ( 200 6.01) ,  G01N 30/00 ( 200 6.01)

FI (4件)：

G01N 31/00 P ,  G01N 1/22 R ,  G01N 1/22 X ,  G01N 30/00 B