特許

J-GLOBAL ID：202003004359903463

エレクトロスプレーイオン化装置、質量分析機器、エレクトロスプレーイオン化の方法、及び質量分析方法

発明者： 平岡 賢三
出願人/特許権者： 国立大学法人山梨大学
代理人 (3件)： SK特許業務法人 ,  奥野 彰彦 ,  伊藤 寛之
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2018018263
公開番号（公開出願番号）：WO2018-207903
出願日： 2018年05月11日
公開日（公表日）： 2018年11月15日
要約：

本発明は、エレクトロスプレーイオン化装置であって、接触することにより試料を捕捉する探針部材と、前記探針部材に電圧を印加するように構成された電圧印加部材とを有し、前記探針部材が前記試料への液状溶媒の連続供給機構又は液状溶媒の断続供給機構を備えるか、又は前記エレクトロスプレーイオン化装置が前記試料への液状溶媒の連続供給機構又は液状溶媒の断続供給機構を備える溶媒供給部材をさらに有する、エレクトロスプレーイオン化装置を提供するものである。

請求項（抜粋）：

エレクトロスプレーイオン化装置であって、 接触することにより試料を捕捉する探針部材と、 前記探針部材に電圧を印加するように構成された電圧印加部材とを有し、 前記探針部材が前記試料への液状溶媒の連続供給機構又は液状溶媒の断続供給機構を備えるか、又は前記エレクトロスプレーイオン化装置が前記試料への液状溶媒の連続供給機構又は液状溶媒の断続供給機構を備える溶媒供給部材をさらに有する、 エレクトロスプレーイオン化装置。

IPC (4件)：

H01J 49/16 ,  H01J 49/04 ,  H01J 49/26 ,  G01N 27/62

FI (5件)：

H01J49/16 ,  H01J49/04 ,  H01J49/26 ,  G01N27/62 G ,  G01N27/62 F

Fターム (12件)：

2G041CA01 ,  2G041DA05 ,  2G041DA18 ,  2G041EA03 ,  2G041GA30 ,  2G041JA20 ,  5C038GG04 ,  5C038GG08 ,  5C038GG13 ,  5C038GH05 ,  5C038GH17 ,  5C038HH03