特許

J-GLOBAL ID：202003004502786279

画像読取装置

発明者： 伊藤 稔允
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (4件)： 岡部 讓 ,  越智 隆夫 ,  吉澤 弘司 ,  齋藤 正巳
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2018-206743
公開番号（公開出願番号）：特開2020-071427
出願日： 2018年11月01日
公開日（公表日）： 2020年05月07日
要約：

【課題】読取画像への光源像の写りこみを抑制した画像読取装置を提供する。【解決手段】本発明に係る画像読取装置は、原稿Gを第1の方向に搬送する搬送部と、透光部材312を介して原稿Gの読取位置Hを照明する照明部401、402と、読取位置Hからの光を受光する受光部406と、読取位置Hからの光を受光部406に導光する光学系とを有し、第1の方向と透光部材312の原稿Gの側の面の法線Sとを含む第1の断面内において、透光部材312の原稿Gの側の法線Sと原稿Gの読取位置Hにおける法線Pとのなす角度は、光学系の光軸Rと原稿Gの読取位置Hにおける法線Pとのなす角度よりも大きいことを特徴とする。【選択図】 図3

請求項（抜粋）：

原稿を第1の方向に搬送する搬送部と、 透光部材を介して前記原稿の読取位置を照明する照明部と、 前記読取位置からの光を受光する受光部と、 前記読取位置からの光を前記受光部に導光する光学系とを有し、 前記第1の方向と前記透光部材の前記原稿の側の面の法線とを含む第1の断面内において、前記透光部材の前記法線と前記原稿の前記読取位置における法線とのなす角度は、前記光学系の光軸と前記原稿の前記法線とのなす角度よりも大きいことを特徴とする画像読取装置。

IPC (4件)：

G03B 27/54 ,  H04N 1/04 ,  H04N 1/028 ,  G03B 27/50

FI (5件)：

G03B27/54 A ,  H04N1/04 101 ,  H04N1/12 Z ,  H04N1/028 J ,  G03B27/50 A

Fターム (36件)：

2H108AA17 ,  2H108CB01 ,  2H109AA02 ,  2H109AA12 ,  2H109AA26 ,  2H109AA46 ,  2H109AA94 ,  5C051AA01 ,  5C051BA03 ,  5C051DA02 ,  5C051DB01 ,  5C051DB04 ,  5C051DB22 ,  5C051DB24 ,  5C051DB29 ,  5C051EA01 ,  5C051FA01 ,  5C072AA01 ,  5C072BA15 ,  5C072CA05 ,  5C072DA02 ,  5C072DA04 ,  5C072DA16 ,  5C072DA17 ,  5C072EA05 ,  5C072EA06 ,  5C072FA06 ,  5C072LA02 ,  5C072LA08 ,  5C072LA18 ,  5C072MA01 ,  5C072MB01 ,  5C072NA01 ,  5C072NA04 ,  5C072WA02 ,  5C072XA01