特許

J-GLOBAL ID：202003005371187540

画像処理による物体検査

発明者： 中谷光宏
出願人/特許権者： 中谷 光宏
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2018-206689
公開番号（公開出願番号）：特開2020-071174
出願日： 2018年11月01日
公開日（公表日）： 2020年05月07日
要約：

【課題】カメラ付き電子機器を用いて、安価かつ正確に被写体の実寸法を測定し検査する。【解決手段】一般の定規等を撮影し、その撮影画像に合成されディスプレイに表示された描画線(プログラムにより描画)の長さを入力することでピクセル(描画点)の実寸法を求める。電子機器がディスプレイに表示された撮影画像において、画像線画処理によって、被写体画像から線画を抽出し、その座標情報を元にベクトル計算を行い寸法計測および検査を行う。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

カメラおよびディスプレイを有する電子機器と物差し等の寸法計測器具によって、ディスプレイに表示されている描画点(ピクセル)の実際の寸法を取得する方法であって、 前記ディスプレイに投影された、前記寸法計測器具によって、前記ディスプレイに表示された、前記電子機器により描画された直線の寸法を計測する事で、前期ディスプレイ内の描画点(ピクセル)と実際の寸法を関連付ける方法。

IPC (4件)：

G01B 11/03 ,  G06T 1/00 ,  G06T 7/00 ,  G01B 11/26

FI (4件)：

G01B11/03 H ,  G06T1/00 300 ,  G06T7/00 610C ,  G01B11/26 H

Fターム (20件)：

2F065AA22 ,  2F065AA23 ,  2F065AA31 ,  2F065DD06 ,  2F065FF01 ,  2F065FF61 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  5B057AA01 ,  5B057BA02 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057DA01 ,  5B057DA16 ,  5L096AA06 ,  5L096BA03 ,  5L096CA02 ,  5L096FA64 ,  5L096FA67