特許
J-GLOBAL ID：202003005506846906
光ファイバ特性測定装置及び光ファイバ特性測定方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
棚井 澄雄
, 佐伯 義文
, 高橋 久典
, 沖田 壮男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2018-195645
公開番号（公開出願番号）：特開2020-063971
出願日： 2018年10月17日
公開日（公表日）： 2020年04月23日
要約：
【課題】測定点数を増加させることなく被測定光ファイバの特性をより短時間で測定することが可能な光ファイバ特性測定装置及び光ファイバ特性測定方法を提供する。【解決手段】光ファイバ特性測定装置1は、被測定光ファイバFUTに光を入射させて得られるブリルアン散乱光LSを検出する検出部16と、検出部16から出力される検出信号S1から、ブリルアン散乱光のスペクトルであるブリルアンゲインスペクトルを得るスペクトル取得部17と、スペクトル取得部17で得られたブリルアンゲインスペクトルを解析してブリルアン周波数シフト量を求めることにより被測定光ファイバFUTの特性を測定するとともに、ブリルアンゲインスペクトルを解析して得られたピーク周波数に応じて、スペクトル取得部17でブリルアンゲインスペクトルを得る周波数範囲を変更するスペクトル解析部18と、を備える。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
被測定光ファイバに光を入射させて得られるブリルアン散乱光を検出する検出部と、
前記検出部から出力される検出信号から、前記ブリルアン散乱光のスペクトルであるブリルアンゲインスペクトルを得るスペクトル取得部と、
前記スペクトル取得部で得られた前記ブリルアンゲインスペクトルを解析してブリルアン周波数シフト量を求めることにより前記被測定光ファイバの特性を測定するとともに、前記ブリルアンゲインスペクトルを解析して得られたピーク周波数に応じて、前記スペクトル取得部で前記ブリルアンゲインスペクトルを得る周波数範囲を変更するスペクトル解析部と、
を備える光ファイバ特性測定装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01D5/353 B
, G01M11/00 U
2F103BA41
, 2F103CA06
, 2F103CA07
, 2F103CA08
, 2F103CA09
, 2F103CA11
, 2F103EB02
, 2F103EB12
, 2F103EB16
, 2F103EB19
, 2F103EC09
, 2F103EC10
, 2F103ED11
, 2F103ED27
, 2F103ED36
, 2F103ED39
, 2F103FA02
, 2F103GA11
, 2F103GA14
, 2G086DD04
